[发明专利]用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置

权利要求书

1.一种用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置，其特征在于，包括：光纤传感单元(1)、光纤延迟单元(2)、光电转换单元(3)和信号采集处理单元(4)；

所述光纤传感单元(1)包括用于绕制在高压套管上的传感光纤(101)；

所述光纤延迟单元(2)包括延迟光纤(201)、光源(202)、分光耦合器(203)和合光耦合器(204)；

所述光电转换单元(3)包括光电探测器(301)；

所述信号采集处理单元(4)包括用以削弱低频背景噪声以及消除直流偏置的高通滤波器；

所述延迟光纤(201)连接所述分光耦合器(203)和所述合光耦合器(204)；

所述分光耦合器(203)连接所述合光耦合器(204)；

所述光源(202)的输出端连接所述分光耦合器(203)；

所述光电探测器(301)的输入端连接所述分光耦合器(203)，输出端连接所述信号采集处理单元(4)；

所述合光耦合器(204)连接所述传感光纤(101)。

2.根据权利要求1所述的用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置，其特征在于，还包括用于反射所述传感光纤(101)中传导的光信号的反射结构(5)。

3.根据权利要求2所述的用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置，其特征在于，所述反射结构(5)为单程旋光45°的法拉第电磁旋镜(501)。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置，其特征在于，所述信号采集处理单元(4)还包括示波器或者采集卡以及小波降噪与批处理程序。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置，其特征在于，所述光纤检测装置为Michelson、Mach–Zehnder或者Sagnac型干涉结构，所述Michelson、所述Mach–Zehnder或者所述Sagnac型干涉结构为直线型结构、环型结构或者双环型结构；

其中，所述双环型结构为其中一种所述干涉结构的重复组合或者两种干涉结构的相互组合。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置，其特征在于，所述传感光纤(101)绕制在高压套管的平滑外表面上，并且沿着平滑表面的单一方向绕制；

所述传感光纤(101)整体呈单螺旋状分布在高压套管的外表面，并且单螺旋状的所述传感光纤(101)的两端在高压套管上固定。

7.根据权利要求6所述的用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置，其特征在于，所述传感光纤(101)绕制时光纤之间以及与高压套管之间紧密贴合。

8.根据权利要求7所述的用于高压套管放电故障检测的光纤检测装置，其特征在于，所述传感光纤(101)绕制于高压套管芯子与导杆处用于检测高压套管内部微弱局部放电；

所述传感光纤(101)绕制在高压套管外壳上用于检测高压套管中高能放电现象。