[发明专利]设备性能的预测方法及装置、存储介质、终端

说明书

一种设备性能的预测方法及装置、存储介质、终端，所述方法包括：确定用于评价设备性能的性能指标；从历史数据中获取多个历史性能指标序列，并计算历史p值，以得到历史p值集合，并根据历史p值集合确定预警p值；从待检测数据中获取待检测性能指标序列，计算待检测p值；比较所述待检测p值与所述预警p值，根据比较结果预测设备性能；待检测p值及历史p值按照如下步骤计算：截取预设长度的性能指标序列，并划分为第一子序列和第二子序列；构造能够表示第一子序列和第二子序列之间的均值水平差异的统计量，统计量服从t分布；确定统计量实测值，并计算能够反应设备故障概率的p值。本发明提供的方案可以预测设备性能，以提高预警准确率。

技术领域

本发明涉及机电技术领域，具体地涉及一种设备性能的预测方法及装置、存储介质、终端。

背景技术

预警是指在灾害以及其他需要提防的危险发生之前，根据以往总结的规律或者观测得到的可能性前兆，向相关部门发出紧急信号，报告危险情况，以避免危害在不知情或者准备不足的情况下发生，从而最大程度的减轻危害所造成的损失的行为。

目前的机电系统中，常用的预警方式主要是基于经验的超限预警方法。这种方法依赖较多的人的经验知识，并且容易受到单个异常点的影响报出虚警。而且，该种预警方式不利于早期故障的发现，往往报出预警时，设备或设备部件已经恶化到一定程度。除机电系统中的设备以外，还可以是任一能够多次运行或长久运行的其他设备，均需要尽早发现潜在故障，因而预警指示必不可少。

然而，由于当前预警方式存在缺陷，如何预警还需进一步研究。

发明内容

本发明解决的技术问题是如何预测设备性能，以提高预警准确率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种设备性能的预测方法，包括：确定用于评价设备性能的性能指标；从历史数据中获取多个历史性能指标序列，并分别计算每一所述历史性能指标序列的历史p值，以得到历史p值集合，并根据所述历史p值集合确定预警p值；从待检测数据中获取待检测性能指标序列，计算所述待检测性能指标序列的待检测p值；比较所述待检测p值与所述预警p值，并根据比较结果预测所述设备性能；其中，所述待检测p值及所述历史p值按照如下步骤进行计算：截取预设长度的性能指标序列，并将截取到的性能指标序列划分为第一子序列和第二子序列，所述性能指标序列为按时间顺序排布的多个性能指标，所述性能指标序列为所述历史性能指标序列或所述待检测性能指标序列；构造能够表示所述第一子序列和第二子序列之间的均值水平差异的统计量，所述统计量服从t分布；根据所述第一子序列和第二子序列确定统计量实测值，并根据所述统计量实测值计算能够反应设备故障概率的p值，所述p值为所述待检测p值或所述历史p值。

可选的，所述根据所述第一子序列和第二子序列确定统计量实测值可以包括：分别删除所述第一子序列和第二子序列中的异常值，以得到更新后第一子序列和更新后第二子序列；根据所述更新后第一子序列和更新后第二子序列确定所述统计量实测值。

可选的，所述分别删除所述第一子序列和第二子序列中的异常值包括：利用箱线图异常值处理算法，分别删除所述第一子序列和第二子序列中的异常值。

可选的，所述利用箱线图的异常值处理算法，分别删除所述第一子序列和第二子序列中的异常值可以包括：对于所述第一子序列或第二子序列，计算各自的下四分位数和上四分位数；将所述上四分位数与所述下四分位数之差作为四分位距；删除区间[Q₁-IQR*a，Q₃+IQR*a]以外的元素；其中，Q₁表示所述第一子序列或第二子序列的下四分位数，Q₃表示所述第一子序列或第二子序列的上四分位数，a表示预设强度因子，IQR表示所述四分位距。

可选的，各个历史性能指标序列的预设长度相同，该预设长度等于所述待检测性能指标序列的预设长度，且划分得到的各个第一子序列的长度相同。