[发明专利]一种基于β射线法和光散射原理的颗粒物实时测量方法

权利要求书

1.一种基于β射线法和光散射原理的颗粒物实时测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一，通过光学检测模块并根据粒子平均密度或拟合系数获得待测气体中颗粒物的质量浓度作为实时质量浓度；

步骤二，确定β射线检测模块的富集时间；

步骤三，让所述β射线检测模块富集所述颗粒物至所述富集时间后得到所述颗粒物的粒子标准质量浓度；

步骤四，根据所述粒子标准质量浓度调整所述粒子平均密度和所述拟合系数；

步骤五，通过所述光学检测模块并根据校准后的所述粒子平均密度或校准后的所述拟合系数获得校准后质量浓度作为所述待测气体中颗粒物的所述实时质量浓度；

其中，所述步骤一中，所述质量浓度的获得方法如下：

通过所述光学检测模块获得所述待测气体中颗粒物的粒子计数浓度；通过所述光学检测模块根据所述粒子平均密度实时获得粒子计数质量浓度，并通过所述光学检测模块根据所述拟合系数实时获得粒子直流质量浓度；判断所述粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓度，当判断为不大于时，将所述粒子计数质量浓度作为所述实时质量浓度；当判断为大于时，将所述粒子直流质量浓度作为所述实时质量浓度；

其中，所述步骤二中，所述富集时间的确定方法如下：

将所述实时质量浓度作为粒子估计质量浓度；根据所述β射线检测模块的检出质量和所述粒子估计质量浓度计算得到所述富集时间；

其中，所述步骤四包括如下子步骤：

计算所述β射线检测模块的检测周期内的所述粒子计数质量浓度的平均值作为平均粒子计数质量浓度，并计算所述β射线检测模块的检测周期内的所述粒子直流质量浓度的平均值作为平均粒子直流质量浓度；根据所述粒子标准质量浓度和所述平均粒子计数质量浓度调整所述粒子平均密度，并根据所述粒子标准质量浓度和所述平均粒子直流质量浓度调整所述拟合系数；

其中，所述步骤五包括如下子步骤：通过所述光学检测模块实时获得所述待测气体中颗粒物的粒子计数浓度；通过所述光学检测模块根据调整后的所述粒子平均密度实时获得调整后的粒子计数质量浓度，并通过所述光学检测模块根据调整后的所述拟合系数实时获得调整后的粒子直流质量浓度；判断所述粒子计数浓度是否大于粒子预设计数浓度，当判断为不大于时，将调整后的所述粒子计数质量浓度作为所述实时质量浓度；当判断为大于时，将调整后的所述粒子直流质量浓度作为所述实时质量浓度。

2.根据权利要求1所述的一种基于β射线法和光散射原理的颗粒物实时测量方法，其特征在于，同一气路的所述待测气体先通过所述光学检测模块再通过所述β射线检测模块。

3.根据权利要求2所述的一种基于β射线法和光散射原理的颗粒物实时测量方法，其特征在于，所述待测气体通过所述光学检测模块前先进行除湿处理。