[发明专利]示波器的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质在审
申请号: | 201911103558.1 | 申请日: | 2019-11-12 |
公开(公告)号: | CN110850136A | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | 胡浩 | 申请(专利权)人: | 深圳宝龙达信创科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R13/02 | 分类号: | G01R13/02;G05B15/02 |
代理公司: | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人: | 晏波 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区桃源*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 示波器 测试 方法 终端设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
本发明提供了一种示波器的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质。本发明提供的示波器的测试方法包括以下步骤:通过示波器的测试界面获取测试参数;根据所述测试参数生成测试文件;将所述测试文件发送至所述示波器,以供所述示波器根据接收到的所述测试文件进行测试。将示波器与上位机相连,以利用上位机控制示波器进行测试,并自动对示波器获得的测试结果进行处理,节省了传统利用示波器进行测试的测试时间以及数据处理时间,大大提高了测试效率。
技术领域
本发明涉及示波器控制领域,特别涉及一种示波器的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质。
背景技术
示波器可用于测试低速信号和电源测试,但是在使用示波器进行测试时,手动测试作为传统的测试方法,所有测试项目都需要重复手动设置每一个通道的通道名,设置上下沿触发、电平、时间刻度、测试通道测试设置等等配置。测试完成后,需要记录测试数据及保存波形,并在示波器里拷取波形,插入测试计划,生成测试报告,测试过程繁琐,效率低下。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种示波器的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质,旨在解决手动操作示波器测试过程繁琐,效率低下的问题。
为实现上述目的,本发明提出了一种示波器的测试方法,所述半自动测试方法包括以下步骤:
通过示波器的测试界面获取测试参数;
根据所述测试参数生成测试文件;
将所述测试文件发送至所述示波器,以供所述示波器根据接收到的所述测试文件进行测试。
可选的,在所述通过示波器的测试界面获取测试参数的步骤之前,所述半自动测试方法还包括:
接收到所述示波器的控制路径选择指令后,获取所述控制路径选择指令对应的控制路径;
建立与所述控制路径对应的示波器的连接,并输出所述控制路径对应的测试界面。
可选地,所述输出所述控制路径对应的测试界面的步骤,包括:
获取所述控制路径对应的所述示波器对应的示波器类型;
输出所述示波器类型对应的测试界面。
可选地,所述测试文件包括运行控制信息以及第一存储路径信息,其中,所述示波器运行接收到的测试文件中的运行控制信息以进行测试得到测试结果,并将所述测试结果存储至所述第一存储路径信息对应的位置。
可选地,在所述将所述测试文件发送至示波器,以供所述示波器根据接收到的所述测试文件进行测试的步骤之后,所述半自动测试方法还包括:
获取所述第一存储路径信息对应的位置存储的所述测试结果,所述测试结果包括时序测试波形和/或与所述时序测试波形对应的时序波形数据;
根据所述时序测试波形和/或与所述时序测试波形对应的时序波形数据生成时序测试报告;
保存所述时序测试报告至第二存储路径信息对应的位置。
可选地,所述根据所述时序测试波形和/或与所述时序测试波形对应的时序波形数据生成时序测试报告的步骤,包括:
获取报告模板;
将所述时序测试波形和/或与所述时序测试波形对应的时序波形数据填充至所述报告模板中,生成所述时序测试报告。
为实现上述目的,本发明还提出一种终端设备,所述终端设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的示波器的测试方法的控制程序,所述示波器的测试方法的控制程序被所述处理器执行时实现如上述所述的示波器的测试方法的步骤。
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