[发明专利]一种Open Block测试装置、方法及系统

说明书

本发明公开一种Open Block测试装置、方法及系统，包括测试主机和至少一个测试板卡；测试板卡上设置有测试控制器、Nand Flash芯片、温控部件；所述Nand Flash芯片、温控部件分别与测试控制器电连接；测试控制器与测试主机通信。通过测试主机控制测试控制器对Nand Flash芯片进行读写，写入时，对Block的部分page进行读写，使Block处于Open状态，即Open Block。间隔一定时间再进行读取，计算Block的每个page的BER，最后分析出BER随时间的变化。提供Block在不同温度Open状态下BER随时间的变化趋势及规律，为Nand Flash控制器的实现及优化提供参考。

技术领域

本发明涉及Nand Flash芯片测试领域，具体涉及Nand Flash芯片的Open Block测试装置、方法及系统。

背景技术

Nand Flash具有容量大，读写速度快，价格相对低廉等优点，在一些嵌入式产品、U盘、特别是SSD中得到大量应用。但是Nand Flash由于自身原理、制作工艺等存在一些固有的特性，如位反转、读干扰、写干扰等，所以写入Nand Flash的数据，再读出来时会和写入的数据有一定差异，即BER(Bi t Error Rate，误码率)。BER在一定范围之内是可以接受的，实际使用中Nand控制程序会有一套完整的纠错校验机制，但是如果BER太高，超出了纠错模块的纠错能力，则保存的数据很有可能会失效，造成数据丢失。另外，在实际使用中一些使用场景会加速Nand一些特性的表现，造成BER升高，比如open block，block在open状态下在很短的时间内可能BER就会升到很高，以至于校验失败，所以为了数据的安全，很有必要对open block状态下BER的变化情况及规律进行测试。

目前，在Nand Flash应用中，对open block的测试比较少；为了避免open block的出现，大部分厂商会一次性写满一个block，当数据不足时会填充dummy data，但是这种使用不是很灵活，有时候会造成存储空间的浪费。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种Open Block测试装置、方法及系统，提供Block在Open状态下BER随时间的变化趋势及规律。

本发明的技术方案是：一种Open Block测试装置，包括测试主机和至少一个测试板卡；

测试板卡上设置有测试控制器、Nand Flash芯片、温控部件；所述Nand Flash芯片、温控部件分别与测试控制器电连接；

测试控制器与测试主机通信。

进一步地，所述温控部件包括温度控制器、测温探头、加热片、风扇和外壳，所述测温探头、加热片、风扇设置在外壳内，外壳扣合在Nand Flash芯片处；

测温探头、加热片、风扇分别与温度控制器电连接；温度控制器与测试控制器电连接。

进一步地，Nand Flash芯片通过插接座插接在测试板卡上。

进一步地，测试板卡上还设置有网口，测试控制器通过网线与测试主机通信。

本发明的技术方案还包括一种Open Block测试方法，包括以下步骤：

S0，测试主机控制测试控制器通过温控部件调节Nand Flash芯片所处环境温度，并等待温度稳定；

S1，测试主机控制测试控制器对Nand Flash芯片的测试Block进行部分写入数据；

S2，测试主机定时控制测试控制器对测试Block进行读取数据；

S3，测试控制器根据读取数据计算测试Block每个page的BER数据，并将所计算的BER数据和对应Block信息返回测试主机；