[发明专利]一种基于最小二乘法的ADC校准方法

权利要求书

1.一种基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

步骤1、将13位的DAC进行一致性校准；

步骤2、通过自动平台中的上位机控制将DAC按照从0开始，依次按照步进值5mV增加到最大电压，其中，如果选择0-VDD档，则所述最大电压为VDD电压；如果选择0-2V档，则最大电压为2V电压，依次作为ADC的输入；

步骤3、ADC选择CHANNEL口，将DAC的输入作为ADC的标准输入；

步骤4、ADC初始化，包括配置时钟和采样；

步骤5、通过所述自动化平台采样并保存ADC的数据；

步骤6、以50mv为步进值，取ADC采样电压值和CODE值；

步骤7、将所述采样电压值和所述CODE值作为一组数据，将其代入最小二乘法基于线性方程的公式进行求解，得到a,b值；

步骤8、利用所述a,b值，反推其他点样点的电压，计算所述其他采样点和理论电压的偏差；

步骤9、利用所述自动化平台的上位机将所述A,B值写入FLASH的特定区域，用户可以直接读该区域数据作为校准后的ADC数据使用。

2.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤1中的DAC经过校准后，偏差不超过0.05mV。

3.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤2中，所述步进值可以灵活配置，并通过所述上位机操作可以实现所述步进值的自动增加，使DAC能够从0V增加到所述最大电压。

4.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤3中，所述ADC的输入为从0v到所述最大电压。

5.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤4中，所述ADC初始化，具体包括时钟配置，channel号配置，GPIO配置，采样率配置。

6.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤5中，所述采样具体包括，通过所述自动化平台将ADC采样数据在每个电压进行100次采样，筛除最大值和最小值，取平均值并保存数据。

7.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤6中，取ADC采样电压值和CODE值是由所述自动平台执行的。

8.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤7中，所述最小二乘法基于线性方程为一次函数的最小二乘法方程，具体满足如下公式：

用于求解所述a,b值的方程组，具体满足如下公式：

其中，y_i＝ax_i+b。

9.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤8中，利用步骤7中计算得到的所述a,b值，拟合得到的基于最小二乘法的直线，并将所有采样点代入方程中反推优化后的电压和理论偏差。

10.如权利要求1所述的基于最小二乘法的ADC校准方法，其特征在于，步骤9中，所述特定区域为flash的特殊INFO区域。