[发明专利]用于测试光敏设备降级的系统

权利要求书

1.一种用于测试光敏设备降级的系统，该系统包括：

光源板，其中光源板发射一定强度水平的光；

电池接口板；

接近光源板并耦合到电池接口板的容器，其中容器包括多个光敏设备，其中与所述多个光敏设备中的每个光敏设备的多个像素相关联的多个引脚与容器接口连接，并且其中容器将所述多个引脚接口连接到电池接口板；

接近光源板的光计量设备，其中光计量设备测量从光源板到光敏设备的发射强度；

耦合到光源板的光电源，其中光电源对到光源板的电流和电压中的一个或多个进行控制；

耦合到电池接口板的多路复用器，其中多路复用器激活寻址所述多个光敏设备中的每个光敏设备的所述多个像素的电路系统；以及

耦合到多路复用器的测量设备，其中测量设备接收与所述多个光敏设备中的每个光敏设备的所述多个像素相关联的一个或多个性能测量结果，并且

其中所述系统被配置为至少部分地基于像素性能测量结果与性能等级阈值的比较，来确定所述多个像素或相关联的所述多个光敏设备中的特定一个或多个光敏设备的是否发生了故障，使得不对所述多个光敏设备中的发生故障的特定一个或多个光敏设备执行进一步的测试。

2.如权利要求1所述的系统，其中光电源是可编程电源。

3.如权利要求1所述的系统，还包括：

容器内的温度计量设备，其中温度计量设备测量与所述一个或多个光敏设备相关联的温度。

4.如权利要求1所述的系统，还包括：

客户端，通信耦合到光电源、多路复用器和测量设备。

5.如权利要求1所述的系统，还包括：

光敏设备测试系统，其中光敏设备测试系统包括光源板、电池接口板和容器。

6.如权利要求1所述的系统，还包括：

容器内的一个或多个基板，其中所述一个或多个基板中的每一个基板包括多个光敏设备。

7.如权利要求1所述的系统，还包括：

容器内的湿度测量设备，其中湿度测量设备测量容器内的湿度。

8.如权利要求1所述的系统，还包括：

容器内的气氛测量设备，其中气氛测量设备测量容器内的气氛。

9.如权利要求1所述的系统，还包括：

振动检测器，其中振动检测器测量所述多个光敏设备被暴露给的任何振动。

10.如权利要求1所述的系统，其中光源板包括荧光光源、白炽光源、激光器、热离子发射器或者发光二极管中的一个或多个。

11.如权利要求1所述的系统，其中光源板包括发光二极管。

12.如权利要求1所述的系统，其中所述强度水平小于或等于一个太阳当量。

13.如权利要求1所述的系统，其中强度水平大于或等于一个太阳当量。

14.如权利要求1所述的系统，其中强度水平是十个太阳当量。

15.如权利要求1所述的系统，其中所述多个光敏设备包括光电二极管、光敏电阻、光电容器、或者光电晶体管中的一个或多个。

16.如权利要求1所述的系统，其中所述多个光敏设备包括光电换能器。

17.如权利要求1所述的系统，其中所述多个光敏设备包括至少一个光伏。

18.如权利要求1所述的系统，其中光计量设备包括光电二极管或者热敏电阻。