[发明专利]一种数据接口的测试装置

说明书

本发明公开了一种数据接口的测试装置，包括具有脉冲触发装置的用于接入第一数据接口的第一治具，用于接入第二数据接口的第二治具和示波器；其中，第二治具的触发信号接收端与第一治具的触发信号输出端连接，第二治具的时钟信号输出端和第二治具的数据输出端分别与示波器连接。通过具有脉冲触发装置的第一治具给第二治具提供脉冲触发信号，在第二治具没有脉冲触发装置时，也可以实现通过第一治具的脉冲触发装置一并进行测试过程中的信号速率切换，从而可以一并进行不同类型的数据接口的测试，不受到没有脉冲触发装置的限制。因此本发明提供的数据接口的测试装置方便了对整机的数据接口的测试过程，提高了整机的数据接口测试的效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种数据接口的测试装置。

背景技术

目前基于计算机串行数据接口的物理层测试，需要通过测试用的治具连接数据接口，并将数据接口输出的信号输送至示波器进行显示与分析。不同的数据接口对应的传输速率不同，在对不同类型的数据接口进行测试时，需要进行信号速率的切换。而对于像PCIE3.0这样的数据接口来说，由于其向下兼容PCIE 1.0/PCIE 2.0，因此在进行一个数据接口的测试时也需要进行速率切换。

对PCIE接口的测试中，主要是通过PCI-SIG协会发布的测试夹具CLB(ComplianceLoad Board)来进行PCIE TX物理层测试。在测试时的信号速率切换的方式主要有三种：通过信号发生器，输出一个100M、1ms的脉冲信号给接入被测PCIE接口的CLB夹具上的lane0RX+接口进行信号速率的切换；利用示波器上用来校准的Fast Edge脉冲信号进行信号速率的切换；利用PCIE自身的COMP MODE SEL模块所发出的信号进行信号速率的切换。

但对于像M.2接口这样既无法连接CLB夹具，其对应的测试治具又不具有脉冲触发装置的数据接口来说，只能采用前两种方式进行信号速率的切换，即要么对被测M.2接口单独设置信号发生器，要么利用示波器上用来校准的Fast Edge脉冲信号进行信号速率的切换，而后者由于不能提供规定的100M、1ms的脉冲信号，经常会发生切换失败的问题，不适于投入使用。

可以看到，现有技术中在对数据接口进行物理层测试时，不同类型的数据接口需要匹配不同的测试装置，对应不同的操作程序，导致对整机数据接口的测试操作繁琐，效率较低。

发明内容

本发明的目的是提供一种数据接口的测试装置，相较于现有技术，便于对整机的数据接口进行测试，提高了整机的数据接口测试的效率。

为解决上述技术问题，本发明提供一种数据接口的测试装置，包括具有脉冲触发装置的用于接入第一数据接口的第一治具，用于接入第二数据接口的第二治具和示波器；

其中，所述第二治具的触发信号接收端与所述第一治具的触发信号输出端连接，所述第二治具的时钟信号输出端和所述第二治具的数据输出端分别与所述示波器连接。

可选的，所述第一数据接口具体为PCIE接口。

可选的，所述第一治具具体为CLB夹具。

可选的，所述第一治具的触发信号输出端具体为J5连接器。

可选的，所述CLB夹具还包括插槽带宽切换开关、量测状态切换开关和模式状态切换开关。

可选的，所述第二数据接口具体为M.2接口。

所述第二数据接口具体为NVMe接口。