[发明专利]样本测定装置和在样本测定装置中执行的方法

说明书

本发明为了防止对容器的状态进行检测的作业抑制样本的测定时间的缩短。本发明提供了一种样本测定装置（100），其包括：对样本进行测定的测定部（10）、检测能收纳样本的容器（42）或容器（40）的盖（41）这两项中的至少一项进行检测的检测部（20）、使容器（40）或检测部（20）中的至少一项移动的移动机构（30）。其中，在移动机构（30）使容器相对于检测部（20）移动的状态下，检测部（20）对容器（40）或盖（41）中的至少一者进行检测。

技术领域

本发明涉及样本测定装置及在样本测定装置中执行的方法。

背景技术

已知有样本测定装置（例如参照专利文献1）。

如图13所示，上述专利文献1公开的样本处理系统900（样本测定装置）包括：测定样本的测定部901、检测有无收纳样本的容器902的塞子903的检测部904、移动架905所收纳的容器902的运送机构906。此专利文献1的样本处理系统900通过检测部904检测有无容器902的塞子903时会使运送机构906的运送暂停，先从架905向上方提升容器902，然后进行检测。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2007－085967号公报。

发明内容

技术问题

但上述专利文献1的样本处理系统900通过检测部904检测有无容器902的塞子903时，先使运送机构906的运送作业暂停，从架905向上方提升容器902然后进行检测，因此存在检测有无容器902的塞子903所需要的作业时间长的缺陷。在以往的样本测定装置中，对测定部的样本进行测定是整个装置中的限速因素，因此没有必要向测定部迅速供应样本。即，测定部测定样本这一处理过程所需时间较长，因此没有必要缩短对容器状态进行检测所需要的作业时间。但在上述专利文献1的样本处理系统中，如果测定部对样本进行测定这一处理过程所需时间缩短，则检测有无容器塞子等的对容器状态进行检测的作业将会成为限速因素，存在着阻碍测定时间缩短的问题。

本发明旨在防止检测容器状态的作业对样本测定时间的缩短构成阻碍。

技术手段

本发明第1层面的样本测定装置（100）包括：用于对样本进行测定的测定部（101）；用于检测能收纳样本的容器（40、42）或容器（40）的盖（41）这两项中的至少一项进行检测的检测部（20、21、22、23）；用于使容器（40、42）或检测部（20、21、22、23）中的至少一项移动的移动机构（30）；在移动机构（30）使容器相对于检测部移动的状态下，检测部（20、21、22、23）对容器（40、42）或盖（41）中的至少一项进行检测。

第1层面的样本测定装置（100）技术方案如上所述，因此在检测容器（40、42）时不需要使容器（40、42）相对于检测部（20、21、22、23）的相对移动暂停，与使容器（40、42）的相对移动暂停然后进行检测的情况相比，对有无容器（40、42）、有无容器（40）的盖（41）这两项中的至少一项进行检测所需要的时间能够得以缩短。由此就能防止对容器（40、42）的状态进行检测的作业阻碍样本测定时间的缩短。

上述第1层面的样本测定装置（100）的优选技术方案为：检测部（20、21、22、23）根据移动机构（30）的移动量或移动位置对容器（40、42）及盖（41）中至少一项进行检测。通过如此技术方案，能够在容器（40、42）位于检测部（20、21、22、23）能够进行检测的位置之时进行检测部（20、21、22、23）的检测，因此不需要使容器（40、42）的相对移动暂停就能轻松地对容器（40、42）或容器（40）的盖（41）两项中的至少一项进行检测。