[发明专利]一种光伏组件老化测试系统及方法在审
| 申请号： | 201910893721.2 | 申请日： | 2019-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN110567866A | 公开（公告）日： | 2019-12-13 |
| 发明（设计）人： | 宫欣欣;刘俊辉;郭志球;关文静;古文俊 | 申请（专利权）人： | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G05D27/02 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 田媛媛 |
| 地址： | 314416 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测光 预设 老化测试 烘箱 组件提供电流 电源 老化测试系统 光伏组件 运行环境 申请 | ||
1.一种光伏组件老化测试系统，其特征在于，包括：
用于放置待测光伏组件、能够为所述待测光伏组件提供预设湿度和预设温度的烘箱；其中，所述预设湿度、所述预设温度为对所述待测光伏组件的实际运行环境进行模拟得到的；
用于为放置在所述烘箱内的所述待测光伏组件提供电流的电源。
2.根据权利要求1所述的光伏组件老化测试系统，其特征在于，所述烘箱的湿度可调。
3.根据权利要求2所述的光伏组件老化测试系统，其特征在于，所述烘箱的湿度调节范围为20％-100％。
4.根据权利要求1所述的光伏组件老化测试系统，其特征在于，所述烘箱的温度调节范围为85℃-150℃。
5.根据权利要求1所述的光伏组件老化测试系统，其特征在于，所述电源为所述待测光伏组件所提供的电流为所述待测光伏组件的短路电流的N倍，其中，N大于等于1。
6.根据权利要求1所述的光伏组件老化测试系统，其特征在于，所述烘箱内能够用于放置多个所述待测光伏组件，其中，所述待测光伏组件内部设置的封装材料不同，所述封装材料包括正面玻璃、封装胶膜、背板。
7.根据权利要求6所述的光伏组件老化测试系统，其特征在于，所述待测光伏组件包括4-8个光伏电池片。
8.一种光伏组件老化测试方法，其特征在于，基于如权利要求1至7任一项所述的光伏组件老化测试系统，包括：
将待测光伏组件放置在能够提供预设湿度和预设温度的烘箱内；其中，所述预设湿度、所述预设温度为对所述待测光伏组件的实际运行环境进行模拟得到的；
利用电源为放置在所述烘箱内的所述待测光伏组件提供电流；
通过所述预设湿度、所述预设温度及所述电流对所述待测光伏组件进行老化测试。
9.根据权利要求8所述的光伏组件老化测试方法，其特征在于，在通过所述预设温度对所述待测光伏组件进行老化测试之前，还包括：
利用所述烘箱对所述预设温度进行调节，以利用调节后的预设温度对所述待测光伏组件进行老化测试。
10.根据权利要求8所述的光伏组件老化测试方法，其特征在于，在通过预设湿度对所述待测光伏组件进行老化测试之前，还包括：
利用所述烘箱对所述预设湿度进行调节，以利用调节后的预设湿度对所述待测光伏组件进行老化测试。
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