[发明专利]一种振镜校正系统及其校正方法

说明书

本发明公开了一种振镜校正系统，包括光路发射器，用于发射出光束；振镜控制系统，用于控制光路发射器发射出的光束偏转打出标靶阵列、并将标靶阵列烧结到振镜校正系统上；振镜校正系统用于接受光路发射器发出的光束，从而形成标靶阵列以及生成振镜补偿文件。振镜校正系统包括接触式扫描仪，在扫描仪的透光玻璃平板外侧纹有间隔固定的两组平行斜线，两组平行斜线垂直相交形成若干个均匀排列的交叉点。本发明还公开了振镜校正系统的校正方法：使用接触式扫描仪对振镜校正板上的标靶阵列进行图像采集，通过图像处理模块对采集的标靶阵列进行处理、输出振镜补偿对振镜进行校正；无需借助辅助测量设备，便可低成本、高效率、高精度地对振镜实现校正。

技术领域

本发明属于增材制造技术领域，涉及一种振镜校正系统，还涉及一种利用该振镜校正系统的校正方法。

背景技术

在增材制造技术领域一般利用振镜控制光(激光等)路来照射粉末(金属、树脂等)令其凝固实现复杂零件的形成；温度、湿度、震动等环境变化、电机的机械磨损等原因，导致振镜电机丢步，一定时间后产生偏差，影响零件的成型质量，因此需要及时对振镜进行误差补偿以减少偏差。

在增材制造技术领域，一般在校正板上打出标靶阵列，再使用昂贵的辅助测量设备(光学影像仪等)进行测量，人工计算出标靶阵列的理论与实际的偏差，再通过补偿计算软件生成校正文件；如此方式操作复杂、费时、成本高，且不容易随时对振镜进行校正，效率低下。

发明内容

本发明的目的是提供一种振镜校正系统，解决振镜校正系统需要借助辅助测量设备导致成本高、耗时、操作复杂且不能随时对振镜进行校正的问题。

本发明的目的还在于提供一种振镜校正系统的校正方法。

本发明所采用的第一种技术方案是，一种振镜校正系统包括

光路发射器，用于发射出光束；

振镜控制系统，用于控制光路发射器发射出的光束偏转打出标靶阵列，并将标靶阵列烧结到振镜校正系统上；

振镜校正系统，用于接受光路发射器发出的光束，从而形成标靶阵列以及生成振镜补偿文件。

接触式扫描仪的分辨率在600dpi到2400dpi之间

本发明的特点还在于，

振镜校正系统包括振镜校正板、接触式扫描仪和图像处理模块，振镜校正板用于接收接受光束照射从而形成标靶阵列，接触式扫描仪用来对振镜校正板的标靶阵列进行图像采集，图像处理模块用于处理接触式扫描仪采集的图像，生成振镜补偿文件。

振镜校正板是平整度良好且不易变形的平板状材质。

接触式扫描仪包括透光玻璃平板，在透光玻璃平板的外侧纹有间隔固定的两组平行斜线，两组平行斜线垂直相交形成若干个均匀排列的交叉点。

接触式扫描仪的分辨率在600dpi到2400dpi之间

本发明所采用的第二种技术方案是，振镜校正系统的校正方法，具体操作步骤如下：

步骤1：振镜控制系统控制光路发射器发出的光束在振镜校正板上打出标靶阵列；

步骤2，将振镜校正板放置在接触式扫描仪上，运行接触式扫描仪的配备软件采集标靶阵列图像；

步骤3，图像处理模块利用步骤2采集的标靶阵列图像获取到图像中各个像素点的相对坐标值，记作集合S₅；

步骤3.1：将标靶阵列图像中所有像素点集合记作S＝{(x,y)|x,y∈N}；x、y分别是像素点在直角坐标系中各x、y轴坐标，N是自然数；