[发明专利]边界扫描测试系统及其方法

说明书

本发明涉及一种边界扫描测试系统及其方法，通过每一中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)测试卡的第一回送线路的两端分别连接另一个CPU测试卡与一个双列直插式内存模块(Dual In‑Line Memory Modules，DIMM)测试卡的边界扫描单元，每一CPU测试卡的第二回送线路的两端分别各自连接一个DIMM测试卡的边界扫描单元，而产生多个边界扫描线网；测试控制主机可执行诊断程序，以在每一边界扫描线网中，任选其中一个边界扫描单元使其发出激励信号，其他边界扫描单元接收对应的响应信号，并比对每一边界扫描线网中每一响应信号与其对应的期望信号，以输出每一边界扫描线网的诊断结果。

技术领域

本发明涉及一种测试系统及其方法，特别是边界扫描测试系统及其方法。

背景技术

在服务器主机板生产线上，都是使用主机板原装CPU进行边界扫描测试。每测试一片主机板就要插拔一次CPU，大量的测试会造成CPU的损坏，使得CPU成了测试损耗品。由于主机板原装CPU价格昂贵，因此，存在测试成本过高的问题。

有鉴于此，相关业者开始依据生产线实际需求着手研发CPU测试卡。然而，由于CPU测试卡的尺寸需与原装CPU的尺寸一致，故在设计CPU测试卡的过程中，需面临如何在原装CPU的尺寸下配置上千个待测引脚的测试资源的挑战。

因此，目前市面上的CPU测试卡一般采用多片设计，每一片测试卡仅覆盖CPU插槽的一部分引脚，测试过程中需将测试卡一片一片进行更换与测试，然后综合多片的测试结果输出测试报告，但此方法存在频繁更换测试卡所带来的时间成本、测试治具设计、测试流程控制等问题，而不适用于生产线。

综上所述，如何依据生产线实际需求设计出成本够低且可以辅助产线边界扫描测试过程的CPU测试卡，进而对应设计出一种较佳的边界扫描测试流程，一直是相关业者当前重要研发课题之一。

发明内容

本发明说明一种边界扫描测试系统及其方法。

首先，本发明说明一种边边界扫描测试系统，用以对待测主机板进行边界扫描测试，其中，待测主机板包括多个CPU插槽与多个DIMM插槽，该CPU插槽之间通过多个快速通道互联(Quick Path Interconnect，QPI)线路相连，该CPU插槽与该DIMM插槽之间通过多个输入输出(I/O)线路相连。边界扫描测试系统包括：多个CPU测试卡(test card)、多个DIMM测试卡与测试控制主机。该CPU测试卡用以依据一对一方式插设于该CPU插槽，每一CPU测试卡包括多个第一回送线路与多个第二回送线路，每一CPU测试卡的每一第一回送线路的两端分别连接一个QPI线路与一个I/O线路，每一CPU测试卡的每一第二回送线路的两端分别各自连接一个I/O线路。该DIMM测试卡用以依据一对一方式插设于该DIMM插槽，每一DIMM测试卡包括至少一边界扫描单元，每一DIMM测试卡的至少一边界扫描单元连接一个I/O线路。测试控制主机用以依据该CPU测试卡、该DIMM测试卡与待测主机板的连接关系产生多个边界扫描线网，以及执行诊断程序，以在每一边界扫描线网中，任选该边界扫描单元其中之一使其发出激励信号，其他该边界扫描单元接收对应的响应信号，并比对每一边界扫描线网中每一响应信号与其对应的期望信号，以输出每一边界扫描线网的诊断结果。