[发明专利]一种用于测量直线度的仪器在审

专利信息
申请号: 201910856336.0 申请日: 2019-09-11
公开(公告)号: CN110553607A 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 吕唯唯;李忠新;何永熹 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 反射镜 连接板 滑块 镜架 标尺 激光 激光测试 待测物 直线度 测量 指针 反射激光 配合安装 位置限定 预设距离 复杂度 基座板 滑动 板面 反射 发射 应用
【说明书】:

发明实施例提供的一种用于测量直线度的仪器,该仪器包括基座、滑块、指针、连接板和镜架;基座一侧板面设有标尺;在与标尺呈第一预设距离的基座板面上安装有待测物;滑块用于配合安装在所述待测物上,且滑块可相对待测物滑动;滑块上安装有连接板;连接板上安装有镜架,且连接板在与标尺相对侧的板面上还安装有指针;镜架用于安装反射镜,且反射镜用于接收置于反射镜一侧的激光测试器产生的激光并反射激光,以使激光测试器接收反射镜所反射的激光,并根据所发射的激光确定待测物的直线度。应用本发明实施例提供的仪器不仅增加了标尺,且还对镜架进行了位置限定,从而能够降低测量的复杂度。

技术领域

本发明涉及测量设备技术领域,特别是涉及一种用于测量直线度的仪器。

背景技术

随着科学技术的不断创新与发展,对各领域生产过程中的形位参数精度要求越来越严格了。例如:导轨直线度作为行为误差之一,直接影响到生产零件的精度、性能、质量及沿导轨运动的精度。可见,在导轨生产过程中,需要对导轨的直线度进行检测,以减小由于导轨的直线度对生产零件的影响。

目前,现有技术提供的一种用于测量直线度的装置包括:安装反射镜的镜架和激光测试器,在测量导轨直线度时,需要手工将导轨划分成多段并进行标记,然后将镜架放置在导轨的标记位置上,在测量过程中,由于镜架的放置位置均是靠人工估算去放置,且在放置过程中,镜架灵活性较大且常会发生晃动,这样导致激光测试器发射的激光并不能正确反射至反射镜上,需要多次尝试并重新校正镜架的放置位置。可见,利用现有测量直线度的装置测量直线度具有较高的复杂度。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种用于测量直线度的仪器,以降低测量的复杂度。

具体技术方案如下:

一种用于测量直线度的仪器,所述仪器包括:基座、滑块、指针、连接板和镜架;

其中,所述基座为矩形板状结构,且所述基座一侧板面设有标尺,在与所述标尺呈第一预设距离的基座板面上用于安装待测物;

所述滑块用于配合安装在所述待测物上,且所述滑块可相对所述待测物滑动;

所述滑块上安装有所述连接板;

所述连接板上安装有所述镜架,且所述连接板在与所述标尺相对侧的板面上还安装有所述指针;

所述镜架用于安装反射镜,且所述反射镜用于接收置于所述反射镜一侧的激光测试器产生的激光并反射所述激光,以使所述激光测试器接收所述反射镜所反射的激光,并根据所发射的激光确定待测物的直线度。

进一步地,所述仪器还包括:转换装置;

所述转换装置包括:第一连接块、第二连接块和转接柱;所述第一连接块的一侧板面的第一预设位置处设有第一磁铁,所述第一连接块的另一侧板面安装在所述连接板上;

所述第二连接块的一侧板面的第二预设位置处设有第二磁铁,所述第二连接块的另一侧板面上安装有转接柱,且所述第一连接块和所述第二连接块通过第一磁铁和第二磁铁相吸呈连接状态;

所述转接柱上安装有所述镜架。

进一步地,所述转换装置还包括:限位件和连接柱;

所述限位件安装在所述第一连接块或所述第二连接块上,若所述第一连接块安装有所述限位件时,则所述第二连接块设有与所述限位件配合的限位槽;

所述连接柱安装在所述第一连接块或所述第二连接块的侧壁上以使在转动所述连接柱时,所述第一磁铁和所述第二磁铁错位以使所述第一连接块和所述第二连接块分离。

进一步地,当所述限位件安装在所述第一连接块上时,所述转换装置还包括滚珠组件,所述限位件为圆滚珠;

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