[发明专利]一种判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法

说明书

本发明提供了一种判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征在于：将各种水处理剂，分别添加到标准试液中，经相同的测试条件后，取样测定各试液中的可溶性二氧化硅的质量浓度，根据可溶性二氧化硅的测定值来计算各水处理剂的阻垢性能θ，从而来判断各种水处理剂的阻硅能力。

技术领域

本发明属于水处理剂测评领域，具体地，涉及一种判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法。

背景技术

现有技术中，评价阻垢剂对二氧化硅阻垢效果的方法较少，一般是使用加了阻垢剂的硅酸钠在40摄氏度以上水浴，再过滤测试二氧化硅残余的浓度，来判断阻垢剂对二氧化硅的阻垢效果，或者在50摄氏度以上，通过硅酸钠和氯化钙进行混合，生成硅酸钙来测试水处理剂阻硅的效果，但是反渗透系统最高允许温度不超过45摄氏度，超过此温度会出现膜的不可逆的损坏。因此该方法不适用于反渗透系统的阻垢剂的评价。

发明内容

本发明旨在克服上述缺陷，提供一种针对反渗透系统的阻垢剂的评价方法。

本发明提供了一种判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征在于：将各种水处理剂，分别添加到标准试液中，经相同的测试条件后，取样测定各试液中的可溶性二氧化硅的质量浓度，根据可溶性二氧化硅的测定值来计算各水处理剂的阻垢性能θ，从而来判断各种水处理剂的阻硅能力。

进一步地，本发明提供的判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征还在于：所述标准试液为由硅酸根离子试液和钙离子试液组成；

其中，所述硅酸根离子试液中二氧化硅的质量浓度等于钙离子试液中钙离子的质量浓度。

进一步地，本发明提供的判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征还在于：所述硅酸根离子选自硅酸的碱金属或碱土金属溶液。

进一步地，本发明提供的判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征还在于：所述钙离子选自钙盐。

进一步地，本发明提供的判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征还在于：所述相同的测试条件指：pH为7±0.5的测试环境，以及15-30℃的测试温度。

进一步地，本发明提供的判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征还在于具体试验方法如下所示：

S1、将硅酸根离子试液均分为多份；

S2、添加入待测试的处理剂；

S3、将体系的pH调节为待模拟的pH条件下；

S4、加入钙离子试液；

S5、在15-30℃的测试温度下，等待设定的测试时间；

S6、分别取样测试可溶性二氧化硅的质量浓度。

进一步地，本发明提供的判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征还在于：在S3中，选用无机碱或无机酸进行pH的调节。

进一步地，本发明提供的判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征还在于：需准备至少一份空白试液。

进一步地，本发明提供的判断水处理剂阻硅的反渗透阻垢垢性能的评价方法，其特征还在于：所述阻硅能力的计算式为：[(C4-C3)/(C0-C3)]*100％；

其中，C4为加入水处理剂的试液进行处理后的可溶性二氧化硅的质量浓度；

C3为未加入水处理剂的试液中可溶性二氧化硅的质量浓度；

C0为测试过程中，硅酸根离子试液中可溶性二氧化硅的质量浓度数值。