[发明专利]一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法有效
申请号: | 201910845696.0 | 申请日: | 2019-09-09 |
公开(公告)号: | CN110727583B | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
发明(设计)人: | 朱巍;李宏亮;谢军;宁永波;刘佳季;李峰;菅陆田;吴珊 | 申请(专利权)人: | 无锡江南计算技术研究所 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人: | 邵捷 |
地址: | 214100 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 扩展 验证 组件 构建 环境 方法 | ||
本发明涉及芯片验证技术领域,具体涉及一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法。本发明通过以下技术方案得以实现的:一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法,包含如下步骤:环境构成要素排序步骤:将的环境构成要素分析,根据所述构成要素的可扩展性和通用性进行排序;元素分层步骤:从底到下分成若干元素层,可扩展性和通用性最好的元素放置在最底层;验证组件形成步骤;验证环境框架定义步骤:利用脚本组件库将所述验证组件装填,构成实际运行的验证环境。本发明的目的是提供一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法,即使面对复杂芯片的验证时,依旧可以有针对性的快速构建验证环境,大大提升验证环境的构建效率。
技术领域
本发明涉及芯片验证技术领域,具体涉及一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法。
背景技术
SOC,即System on Chip,被称为片上系统或系统级芯片,SOC的设计验证过程至关重要,不仅影响到芯片的成功设计,而且影响到芯片的上市时间TTM ( Time To Market) ,验证的正确完备及其耗时的缩短成为了SoC设计的关键。芯片验证环境芯片验证领域的基础性工作,对提高SoC芯片的验证效率、缩短研发时间;降低复杂芯片的设计风险、保证芯片正确性都具有重要的意义。
复杂芯片的验证过程规模较大,这个过程亦要求验证TTR(Time To Result)尽量小。因此要求验证环境构建速度要快,环境自身的正确性要高,这样才能更快、更好地发现设计中的错误,缩短芯片研制时间。
在传统的芯片功能验证中,验证工程师需要开发大量的测试,通过人工方法来观测和检查芯片设计中的错误。但是当芯片规模发展到一定程度时,这种方法显然已经不能再满足产品的要求。现阶段,正如公开号为106202638A的中国专利文件所公开的一种芯片验证平台,使用UVM,即通用验证方法学,搭建待验证芯片的UVM平台。这是业界较为普遍的验证技术手段,其在开发虚拟模型,激励有较好的重用和继承性,但这样的技术方案在如何构建验证环境这一环节仍有缺失。
不同的项目中,验证环境的针对目标设计、验证工具、验证方法等元素都不同。验证工程师往往需要依靠这些验证元素构建一套定制的验证环境来匹配设计和各验证要素。这样就形成了扩展性不好的技术缺陷,特别是面对复杂芯片采用分层次、各种验证技术手段同时使用时,需要构建众多验证环境,环境构建效率就更显的尤其重要。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法,即使面对复杂芯片的验证时,依旧可以有针对性的快速构建验证环境,大大提升验证环境的构建效率。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种基于可扩展验证组件构建验证环境的方法,包含如下步骤:
S01、环境构成要素排序步骤:
将所欲的环境构成要素分析,根据所有构成要素的可扩展性和通用性进行排序;
S02、元素分层步骤:
从上到下分成若干元素层,可扩展性和通用性最好的元素放置在最底层;
S03、验证组件形成步骤:
将各个所述元素层的所有所述构成要素转化为独立的验证组件;
S04、验证环境框架定义步骤:
利用脚本组件库将所述验证组件装填,构成实际运行的验证环境。
作为本发明的优选,在S02、元素分层步骤中,共分为三个元素层,分别为底层、中间层和上层。
作为本发明的优选,位于所述底层的所述验证组件包含仿真工具组件和波形跟踪组件。
作为本发明的优选, 位于所述底层的所述验证组件还包含覆盖率收集分析组件和结果检索组件。
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