[发明专利]一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质，能够获得采样电信号的电平幅度对应的噪声量，不限制使用发射测试参数进行发射机一致性测试的接收机类型。该方法包括：对发射机发送的光信号进行波形采样，以得到采样电信号；根据预设的初始噪声比例参数和采样电信号的电平幅度获得采样电信号对应的第一噪声量，其中，采样电信号的电平幅度大于最小电平且小于最大电平，初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值，第一噪声量为大于最小噪声量且小于最大噪声量的噪声量；根据初始噪声比例参数和理想电信号的电平幅度获得理想电信号对应的第二噪声量；第一噪声量和第二噪声量用于对发射机进行一致性测试。

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，尤其涉及一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质。

背景技术

在光通信网络中，为了实现一个接收机和不同类型的发射机进行通信，接收机需要对不同类型的发射机进行一致性测试。目前对发射机进行一致性测试的方法主要包括：眼图模板(Eye Mask)、发射机色散代价(transmitter dispersion penalty，TDP)、发射机色散眼图闭合代价(transmitter dispersion eye closure penalty，TDEC)。

在对发射机进行一致性测试时，可以通过如下方案获取发射机测试参数：首先使用示波器对发射机发送的光信号进行波形采样，得到采样电信号，然后获取采样电信号对应的噪声量，无论采样电信号为1电平还是0电平都会获取到相同的噪声量，采样电信号对应的噪声量作为发射机测试参数，可用于评估接收机容忍噪声的能力。

在获取发射机测试参数的方案中，对于所有的采样电信号都会对应相同的噪声量，这种方案通常只适用于PIN接收机，但是不适用于雪崩光电二极管(avalanche photodiode，APD)接收机，原因是APD接收机中受到散弹噪声的影响，不同幅度的采样电信号对应的噪声量是不一样的，例如1电平的信号会比0电平的信号需要有更多的噪声，APD接收机按照前述的获取发射机测试参数的方案，所有采样电信号都会对应相同的噪声量，只能使用相同的噪声量作为发射机测试参数，会导致发射机一致性测试结果无法反映真实的发射机性能。上述获取发射机测试参数的方案只能适用于PIN接收机，因此目前的方案限制了所能应用的接收机类型。

发明内容

本申请实施例提供了一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质，能够获得采样电信号的电平幅度对应的噪声量，不限制使用发射测试参数进行发射机一致性测试的接收机类型。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供以下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供一种获取发射机测试参数的方法，包括：对发射机发送的光信号进行波形采样，以得到采样电信号；根据预设的初始噪声比例参数和所述采样电信号的电平幅度获得所述采样电信号对应的第一噪声量，其中，所述采样电信号的电平幅度大于最小电平且小于最大电平，所述初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值，所述最大噪声量为所述最大电平的电信号对应的噪声量，所述最小噪声量为所述最小电平的电信号对应的噪声量，所述第一噪声量为大于所述最小噪声量且小于所述最大噪声量的噪声量；根据所述初始噪声比例参数和理想电信号的电平幅度获得所述理想电信号对应的第二噪声量，其中，所述理想电信号与所述采样电信号具有相同的光学调制幅度，且所述理想电信号的电平幅度为所述最大电平或者所述最小电平；其中，所述第一噪声量和所述第二噪声量用于对所述发射机进行一致性测试。在该方案中，由于本申请实施例中可以根据预设的初始噪声比例参数和采样电信号的电平幅度获得采样电信号对应的第一噪声量，并且确定出的第一噪声量为大于最小噪声量且小于最大噪声量的噪声量，因此本申请实施例中不同电平幅度的采样电信号对应的噪声量不相同，即可以获得采样电信号的电平幅度对应的噪声量，因此适用于不同类型的接收机，本申请实施例不限制使用发射测试参数进行发射机一致性测试的接收机类型。