[发明专利]光纤传感器装置和光纤传感器系统

权利要求书

1.一种光纤传感器装置，其中，所述光纤传感器装置用于设置在多个测定部位处的光纤，设置在各个测定部位处的所述光纤具有设有余长的测定部分，所述测定部分的长度不同，对于多个测定部位中的任意两个，更靠近所述光纤传感器装置的一方具有更短的测定部分，

所述光纤传感器装置具有控制部，该控制部针对各个测定部位，根据从所述各个测定部位处的所述测定部分接收到的散射光的强度，计算所述光纤中的物理量的多个值，计算所述光纤的所述计算出的物理量的平均，

所述控制部根据所述计算出的物理量的多个值和所述光纤的长度，计算所述物理量的平均，

设置在所述测定部位处的所述光纤随着光源与各个所述测定部位之间的距离变长而变长，

所述控制部以对所述多个测定部位的所述测定部分之间的长度的差异进行补偿的方式，计算所述多个测定部位的所述测定部分处的物理量的平均，作为测定点处的物理量。

2.根据权利要求1所述的光纤传感器装置，其中，

所述控制部对设置在所述测定部位处的所述光纤的长度的差异进行补偿，计算补偿后的所述光纤的长度内的所述物理量的平均。

3.根据权利要求2所述的光纤传感器装置，其中，

所述控制部计算设置在所述多个测定部位处的所述光纤中的所述物理量，作为大致相同的长度内的所述物理量。

4.根据权利要求1～3中的任意一项所述的光纤传感器装置，其中，

以将所述多个测定部位连成一串的方式设置所述光纤，

所述控制部计算以所述连成一串的方式设置的光纤中的所述物理量，计算以所述连成一串的方式设置的光纤的所述计算出的物理量的平均。

5.根据权利要求1～3中的任意一项所述的光纤传感器装置，其中，

所述控制部使用布里渊光时域反射仪计算所述光纤中的所述物理量，计算所述物理量的平均。

6.一种光纤传感器系统，该光纤传感器系统具有：

光源部，其使用光源产生入射光；

光纤，其设置在多个测定部位处，使所述入射光散射而产生散射光，设置在各个测定部位处的所述光纤具有设有余长的测定部分，所述多个测定部位处的所述测定部分具有不同长度，对于多个测定部位中的任意两个，更靠近所述光源部的一方具有更短的测定部分；

受光部，其接收在所述光纤内产生的所述散射光；以及

控制部，其针对各个测定部位，根据从所述各个测定部位处的所述测定部分接收到的散射光的强度，计算所述光纤中的物理量的多个值，计算所述光纤的所述计算出的物理量的平均，

所述控制部根据所述计算出的物理量的多个值和所述光纤的长度，计算所述物理量的平均，

设置在所述测定部位处的所述光纤随着所述光源与各个所述测定部位之间的距离变长而变长，

所述控制部以对所述多个测定部位的所述测定部分之间的长度的差异进行补偿的方式，计算所述多个测定部位的所述测定部分处的物理量的平均，作为测定点处的物理量。