[发明专利]一种基于软件仿真紧缩场暗室设计方法

说明书

本发明涉及雷达技术领域，尤其涉及一种基于软件仿真紧缩场暗室设计方法，包括在软件仿真平台构建暗室，测试空暗室的电磁场能量值E₀；测试标准体在暗室环境中的电磁场能量值E₁；测试待测目标在暗室环境中的电磁场能量值E₂；最后计算待测目标的RCS。根据待测目标的RCS和实际的RCS的偏差，调整暗室的参数，直至待测目标的RCS和实际的RCS的偏差在一定范围内，根据调整后暗室的参数建造实际暗室。本发明借助软件仿真技术在暗室制造前计算待测目标的RCS值，可以检验暗室的设计是否满足实际的RCS指标标准，方法简单，大大降低了微波暗室设计的时间和成本要求，提高了暗室设计的质量。

技术领域

本发明涉及雷达技术领域，尤其涉及一种基于软件仿真紧缩场暗室设计方法。

背景技术

随着微波测试仪器日新月异的进步，雷达散射截面(RCS)测量技术已经发展到了一个相当高的水平。除了常规的室内、室外测量以外，利用抛物面紧缩场进行缩距测量均已发展到相当成熟的阶段，而且正在向着更高的测量精度和更完善的测试功能发展。

微波暗室包括屏蔽室、吸波材料等组成，屏蔽室由屏蔽壳体、屏蔽门、通风波导窗各类电源滤波器等组成，为了使微波暗室满足测试要求，需要前期的设计和后期的制造，需要投入人力和物力，成本高。

发明内容

本发明提供了一种紧缩场RCS软件测量方法，通过测试待测目标的RCS值，为微波暗室的建造提供了科学依据。

为了实现本发明的目的，所采用的技术方案是：一种基于软件仿真紧缩场暗室设计方法，包括如下步骤：

1)在软件仿真平台构建暗室；

2)测试空暗室的电磁场能量值E₀；

3)测试标准体在暗室环境中的电磁场能量值E₁；

4)测试待测目标在暗室环境中的电磁场能量值E₂；

5)根据公式1计算待测目标的RCS:

RCS＝[(E₂-E₀)/(E₁-E₀)]×rcs 公式1

其中：rcs为标准体的RCS；

6)根据步骤5)待测目标的RCS和实际的RCS的偏差，调整暗室的参数，直至待测目标的RCS和实际的RCS的偏差在一定范围内，根据调整后暗室的参数建造实际暗室。

作为本发明的优化方案，标准体为金属球体或者金属板。

作为本发明的优化方案，待测目标放置在静区，静区由天线发射的电磁波经抛物面反射后呈平面波射出形成。

本发明具有积极的效果：本发明借助软件仿真技术在暗室制造前计算待测目标的RCS值，可以检验暗室的设计是否满足实际的RCS指标标准，方法简单，大大降低了微波暗室设计的时间和成本要求，提高了暗室设计的质量。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

图1是本发明的整体流程图；

图2是单反射面紧缩场原理图。

具体实施方式

如图1所示，本发明公开了一种紧缩场RCS软件测量方法，包括如下步骤：