[发明专利]测试电子组件的设备及方法

说明书

本公开提供一种设备，其包含控制单元及包含计算机程序码的存储器。所述设备能够将具有第一值的第一信号及具有第二值的第二信号施加到电子组件且接收反馈信号。所述设备能够确定与所述第一反馈信号相关联的第一参数。所述设备能够将具有第三值的第三信号及所述第二信号施加到所述电子组件且接收第二反馈信号。所述设备能够确定与所述第二反馈信号相关联的第二参数。如果所述第一参数不同于所述第二参数，那么所述设备能够将具有第四值的第四信号及所述第二信号施加到所述电子组件。

技术领域

本公开大体上涉及一种测试电子组件的设备及测试电子组件的方法。

背景技术

在制造集成装置/电子组件之后，可进行分析或测试以验证集成装置/电子组件的功能。失败分析为在参数变化(例如，电压、电流及时序)下确定集成设备/电子组件的操作区域。举例来说，失败分析可用于确定集成装置/电子组件在各种输入信号的下可承受的限制。

什穆(Shmoo)测试为测试中的一者，其可用于失败分析或用于集成装置的自动测试设备(ATE)中。什穆测试涉及以二维图/图式的形式(即，什穆图)提供集成装置的一系列测量结果的视觉表示。在什穆测试中，对ATE执行的每一个体测量可导致不合格或产生数值结果(例如，失效计数值或误码率)。在比较方法中，在宽参数范围内通过高分辨率且因此大量所需测量来产生什穆图。由于那些测量仅可连续执行，所以什穆图的产生为耗时的。

发明内容

提议一种用于改善集成装置的测试速度的方法及设备。在所提议的方法及设备中，完成什穆图需要较少测量，且因此集成装置/电子组件的测试的整体时间可减少。在所提议的方法及设备中，计算复杂度也减少且因此系统过载同样可减少。

在一或多个实施例中，提供一种包含控制单元的设备及包含计算机程序码的存储器。存储器及计算机程序码经配置以通过控制单元使设备执行操作。设备能够将具有第一值的第一信号及具有第二值的第二信号施加到电子组件且接收第一反馈信号。设备能够确定与第一反馈信号相关联的第一参数。设备能够将具有第三值的第三信号及第二信号施加到电子组件且接收第二反馈信号。设备能够确定与第二反馈信号相关联的第二参数。如果第一参数不同于第二参数，那么设备能够将具有第四值的第四信号及第二信号施加到电子组件。其中第一差值存在于第三值与第一值之间，且其中第二差值存在于第四值与第一值之间。

在一或多个实施例中，提供一种包含控制单元的设备及包含计算机程序码的存储器。存储器及计算机程序码经配置以通过控制单元使设备执行操作。设备能够接收与第一坐标的第一值及第二坐标的第二值相关联的第一参数。设备能够接收与第一坐标的第三值及第二坐标的第二值相关联的第二参数。如果第一参数不同于第二参数，那么设备能够接收与第一坐标的第四值及第二坐标的第二值相关联的第三参数。其中第一差值存在于第三值与第一值之间，且其中第二差值存在于第四值与第一值之间。

在一或多个实施例中，提供一种用于测试电子组件的方法。方法包含接收与第一坐标的第一值及第二坐标的第二值相关联的第一参数。方法包含接收与第一坐标的第三值及第二坐标的第二值相关联的第二参数。方法包含如果第一参数不同于第二参数，那么接收与第一坐标的第四值及第二坐标的第二值相关联的第三参数。其中第一差值存在于第三值与第一值之间，且其中第二差值存在于第四值与第一值之间。

附图说明

当结合附图阅读时，从以下详细描述容易地理解本公开的方面。应注意，各种特征可能未按比例绘制，且各种特征的尺寸可出于论述的清晰起见而任意增大或减小。

图1说明根据本公开的一些实施例的用于测试电子组件的设备的示意图。

图2A说明根据本公开的一些实施例的受测试装置(DUT)的透视图。

图2B说明根据本公开的一些实施例的DUT的一系列测量结果的视觉表示。

图3A、3B、3C及3D为根据本公开的一些实施例的用于测试电子组件的各种操作。