[发明专利]一种仪器电控系统的可靠性试验方法

说明书

本发明公开了一种仪器电控系统的可靠性试验方法，包括：收集电控系统的历史故障数据并存储在故障数据库中；根据所述历史故障数据，计算所述电控系统包含的若干个元器件的每个元器件的故障率；将故障率大于等于50％的元器件确定为试验元器件；根据所述试验元器件发生的故障类型，为所述电控系统确定可靠性试验的若干个试验项目；对所述试验元器件分别实施所述若干个试验项目的每一个试验项目，并记录试验数据；根据所述试验数据，确定所述电控系统的可靠性。通过本发明，能够提高对产品可靠性试验的针对性，快速检测出产品的故障，极大的缩短了试验周期，有利于研发人员快速获取产品的可靠性，更好的对产品电控系统进行改进，提高产品质量。

技术领域

本发明涉及可靠性试验领域，特别涉及一种仪器电控系统的可靠性试验方法。

背景技术

随着市场竞争的愈加激烈，在民用家电产品领域，高可靠长寿命产品越来越多。如果采用常规的可靠性、寿命试验方法去评估产品的可靠性、寿命特征，那就需要对仪器电控系统包含的所有元器件都进行试验，且对仪器电控系统进行的试验项目相同，这样不仅会耗费难以承受的时间成本，甚至还来不及做完试验，该产品就已经更新换代或因为性能落后而被淘汰，而且对不同仪器电控系统的试验没有针对性，不利于快速发现仪器电控系统的故障位置。显然，如此长的试验时间以及较低的试验针对性，不仅错失了产品可靠性提升的最佳时机，而且严重地影响了研发的进度，在工程实际中是难以接受的。因此，对仪器电控系统采用针对性较强的试验方法进行可靠性、寿命等指标的评估则就显得既必要又重要。

发明内容

本发明提供一种仪器电控系统的可靠性试验方法，能够提高对产品可靠性试验的针对性，准确快速的检测出产品的故障，极大的缩短了试验周期，有利于研发人员快速获取产品的可靠性，进而更好的对产品的电控系统进行改进，提高产品质量。

根据本发明的一个方面，提供了一种仪器电控系统的可靠性试验方法，包括以下步骤：收集电控系统的历史故障数据并将所述历史故障数据存储在故障数据库中；其中，所述历史故障数据包括故障元器件名称、故障元器件的故障类型和故障原因；

根据所述历史故障数据，计算所述电控系统包含的若干个元器件的每个元器件的故障率；

将故障率大于等于50％的元器件确定为试验元器件；

根据所述试验元器件发生的故障类型，为所述电控系统确定可靠性试验的若干个试验项目；其中，所述若干个试验项目包括负载应力试验、高温应力试验、低温应力试验以及振动应力试验；

对所述试验元器件分别实施所述若干个试验项目的每一个试验项目，并记录每一个试验项目的试验数据；

根据所述试验数据，确定所述电控系统的可靠性。

优选地，根据所述试验数据，确定所述电控系统的可靠性之后，该方法还包括以下步骤：将所述试验数据存储进所述故障数据库中。

优选地，根据所述历史故障数据，计算所述电控系统包含的若干个元器件的每个元器件的故障率，包括以下步骤：根据所述历史故障数据，分别统计所述电控系统包含的若干个元器件的每个元器件的故障次数；

根据所述历史故障数据，统计所述电控系统的故障次数；

将每个元器件的故障次数分别除以所述电控系统的故障次数，计算出每个元器件的故障率。

优选地，根据所述试验元器件发生的故障类型，为所述电控系统确定可靠性试验的若干个试验项目，包括以下步骤：根据所述历史故障数据，分析所述试验元器件发生的若干种故障类型；

分别统计所述试验元器件发生的若干种故障类型的每一种故障类型发生的次数；

将每一种故障类型发生的次数分别除以所述试验元器件发生故障的次数，计算出所述试验元器件的每一种故障类型的发生率；