[发明专利]一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法有效
申请号: | 201910725383.1 | 申请日: | 2019-08-07 |
公开(公告)号: | CN110515048B | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 郭曦;刘浩;张成;吴季 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家空间科学中心 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40;G01S13/90 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 陈琳琳;王宇杨 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 旋转 采样 综合 孔径 辐射计 相位 定标 方法 | ||
1.一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法,所述方法包括:
利用待定标的综合孔径辐射计对一个亮温中心对称的观测目标进行旋转采样,获得各相关基线的可见度函数测量值;
任取一个相关基线,对其可见度函数测量值的相位执行校正步骤:提取该相关基线在定标基准采样角度处的可见度函数测量值,将该可见度函数测量值的相位与其对应的定标基准相位的差值作为该相关基线的可见度函数测量值的相位误差;利用该相位误差对该相关基线的可见度函数测量值的相位进行校正,
遍历所有的相关基线,对其可见度函数测量值的相位执行校正步骤,完成综合孔径辐射计的相位定标。
2.根据权利要求1所述的旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法,其特征在于,根据亮温中心对称观测目标的可见度函数相位特性,所述定标基准采样角度的计算步骤:
对于单元天线i和j组成的相关基线,当两个采样角度相差180°时,计算其对应的可见度函数测量值的相位差
其中,为采样角度θs处的可见度函数测量值,angle[·]为对可见度函数求取相位的运算;
则定标基准采样角度θcal为:
其中,Nant为该综合孔径辐射计的天线单元数。
3.根据权利要求2所述的旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法,其特征在于,根据可见度函数测量值的直接亮温重建结果,所述定标基准采样角度的计算步骤:
使用伪极网格逆傅里叶变换法直接对未经相位定标的可见度函数测量值进行亮温重建,在重建结果中确定亮温中心对称观测目标中心点在空间域中的极坐标相角θtarget;
则该观测场景下的定标基准采样角度θcal为:
θcal=θtarget+90°或θtarget-90°。
4.根据权利要求2或3所述的旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法,其特征在于,所述定标基准相位的计算步骤为:
绘制在定标基准采样角度处的可见度函数测量值的幅度随相关基线长度变化的关系曲线,确定该曲线零点所在位置的相关基线长度u0,k;k为零点的编号;定义k=0时,u0,k所对应的相关基线长度为零,即零基线;
由零点出现位置判定各相关基线定标基准相位其中相关基线长度在第一零点与第二零点之间、第三零点与第四零点之间、第五零点与第六零点之间……的相关基线定标基准相位为180°,其余相关基线的定标基准相位为0°,其计算公式为:
其中,为相关基线的定标基准相位,u为相关基线长度。
5.根据权利要求4所述的综合孔径辐射计相位定标方法,其特征在于,所述将该可见度函数测量值的相位与其对应的定标基准相位的差值作为该相关基线的可见度函数测量值的相位误差,具体为:
其中,为可见度函数测量值的相位误差,angle[·]为对可见度函数求取相位的运算,为在定标基准采样角度处的可见度函数测量值。
6.根据权利要求5所述的综合孔径辐射计相位定标方法,其特征在于,所述利用该相位误差对该相关基线的可见度函数测量值的相位进行校正;具体为:
其中,为该相关基线可见度函数测量值相位定标结果,i为虚数符号。
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