[发明专利]光检测装置基准电压设置方法、电路、装置及介质

说明书

本发明公开一种光检测装置基准电压设置方法、电路、光检测装置及可读存储介质，光检测装置包括用于检测光信号以输出工作电压的光接收组件、用于放大光接收组件输出的电压信号并与其基准电压信号进行比较的限幅放大器、用于输出初始端口电压的MCU，以及分别与限幅放大器和MCU连接的直流电源，光检测装置基准电压设置方法包括：获取光接收组件的工作电压和预设的拟设参数，工作电压为初始工作电压或当前工作电压；根据光接收组件的工作电压和预设的拟设参数计算获得端口待设电压，以将初始端口电压调节至端口待设电压，以设定限幅放大器的基准电压。本发明技术方案提高了光检测装置中限幅放大器基准电压设置的准确性。

技术领域

本发明涉及信号检测技术领域，特别涉及一种光检测装置基准电压设置方法、电路、光检测装置及可读存储介质。

背景技术

现有光信号检测电路中，一般包括光接收组件、限幅放大器、电阻及单片机。在光信号检测电路中，光接收组件将接收到的光信号转换成电压信号输入到限幅放大器，限幅放大器具有阈值设置端，可输入一个特定的电压到该阈值设置端。现有技术中，通过焊接不同的电阻设置电压来实现不同的阈值大小，由于工艺的差异，光学组件转换过来的电压信号幅度存在一定的分布范围，并非完全一致，需要配备不同的设置电阻值达到相关的光学判断阈值，就需要人工更换电阻，可靠性较低。

在光检测电路中，可以使用MCU中的模数转换器DAC输出不同的电压，用于替代电阻，避免人工更换电阻，从而可以实现自动调节，提高效率。然而由于光检测模块的电源在一定范围内的存在波动，将会造成限幅放大器的阈值电压设定不准确。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种光检测装置基准电压设置方法、电路、光检测装置及可读存储介质，旨在提高光检测装置中限幅放大器基准电压设置的准确性。

为实现上述目的，本发明提出的光检测装置基准电压设置方法，光检测装置包括用于检测光信号以输出工作电压的光接收组件、用于放大所述光接收组件输出的电压信号并与其基准电压信号进行比较的限幅放大器、用于输出初始端口电压的MCU，以及分别与所述限幅放大器和所述MCU连接的直流电源，所述光检测装置基准电压设置方法包括：

获取光接收组件的工作电压和预设的拟设参数，所述工作电压为初始工作电压或当前工作电压；

根据所述光接收组件的工作电压和预设的拟设参数计算获得端口待设电压，以将所述初始端口电压调节至所述端口待设电压，以设定所述限幅放大器的基准电压。

可选地，在所述光接收组件为初始工作电压时，所述限幅放大器的第一基准电压与所述初始工作电压的关系具体为第一预设公式V_sd1＝a×V_cc1+b，其中，V_sd1为所述限幅放大器的第一基准电压值，V_cc1为所述光接收组件的初始工作电压值，a为所述光接收组件的第一拟设参数，b为所述光接收组件的第二拟设参数；

在所述光接收组件为当前工作电压时，所述限幅放大器的第二基准电压与所述当前工作电压的关系具体为第二预设公式V_sd2＝a×V_cc2+b，其中，V_sd2为所述限幅放大器的第二基准电压值，V_cc2为所述光接收组件的当前工作电压值，a为所述光接收组件的第一拟设参数，b为所述光接收组件的第二拟设参数。

可选地，在所述光接收组件为初始工作电压时，所述限幅放大器的第一基准电压与所述MCU的初始端口电压的关系具体为第三预设公式V_sd1＝c×V_d1+d，其中，V_sd1为所述限幅放大器的第一基准电压值，V_d1为所述MCU的初始端口电压值，c为所述光接收组件的第三拟设参数，d为所述光接收组件的第四拟设参数；