[发明专利]电子天平系统及电子天平在审
申请号: | 201910680730.3 | 申请日: | 2019-07-26 |
公开(公告)号: | CN110779609A | 公开(公告)日: | 2020-02-11 |
发明(设计)人: | 加藤昌央 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01G19/415 | 分类号: | G01G19/415;G01N5/00 |
代理公司: | 11270 北京派特恩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 薛恒;王琳 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子天平 测定条件 外部装置 对象物 通信部 发送 测定对象物 存储通信 接收通信 存储部 | ||
1.一种电子天平系统,其特征在于,包括电子天平及外部装置,
所述电子天平具有:
测定部,测定对象物的质量;
获取部,获取所述对象物的测定条件;及
第一发送部,将所述对象物的测定结果与所述测定条件发送至所述外部装置,并且
所述外部装置具有:
第一接收部,接收所述第一发送部所发送的所述测定结果与所述测定条件;及
存储部,对应存储所述第一接收部所接收的所述测定结果与所述测定条件。
2.根据权利要求1所述的电子天平系统,其中所述外部装置具有:
选择接受部,接受存储于所述存储部中的所述测定条件的选择;及
第二发送部,将所选择的所述测定条件发送至所述电子天平,并且
所述电子天平具有:
第二接收部,接收所述第二发送部所发送的所述测定条件;及
设定部,设定所述第二接收部所接收的所述测定条件。
3.根据权利要求1或2所述的电子天平系统,其中所述测定条件包含测定所述对象物的质量时的所述电子天平的设定。
4.根据权利要求1或2所述的电子天平系统,其中所述电子天平能够供用以辅助测定所述对象物的质量的安装构件安装,
所述测定条件包含测定所述对象物的质量时的与所述安装构件相关的信息。
5.根据权利要求1或2所述的电子天平系统,其中所述测定条件包含测定所述对象物的质量时的环境、日期时间、场所、用户识别信息及所述电子天平(2)的电子天平识别信息中的至少一个。
6.根据权利要求1或2所述的电子天平系统,其中所述测定条件包含自开始对所述电子天平通电时起至测定所述对象物的质量时为止的时间。
7.根据权利要求1或2所述的电子天平系统,其中所述对象物的识别信息被输入到所述电子天平或所述外部装置,所述存储部对应存储所述对象物的识别信息、所述测定结果与所述测定条件。
8.一种电子天平,其特征在于,包括:
测定部,测定对象物的质量;
获取部,获取所述对象物的测定条件;及
发送部,将所述对象物的测定结果与所述测定条件发送至外部装置,以使所述外部装置对应存储所述对象物的测定结果与所述测定条件。
9.一种电子天平,其特征在于,包括:
测定部,测定对象物的质量;
获取部,获取所述对象物的测定条件;及
存储部,对应存储所述测定部的测定结果与所述测定条件。
10.根据权利要求8所述的电子天平,其中,具有:
接收部,接收所述外部装置所发送的所述测定条件;及
设定部,设定所述接收部所接收的所述测定条件。
11.根据权利要求8至10中任一项所述的电子天平,其中所述测定条件包含测定所述对象物的质量时的所述电子天平的设定。
12.根据权利要求8至10中任一项所述的电子天平,其中所述电子天平能够供用以辅助测定所述对象物的质量的安装构件安装,
所述测定条件包含测定所述对象物的质量时的与所述安装构件相关的信息。
13.根据权利要求8至10中任一项所述的电子天平,其中所述测定条件包含测定所述对象物的质量时的环境、日期时间、场所、用户识别信息及所述电子天平的电子天平识别信息中的至少一个。
14.根据权利要求8至10中任一项所述的电子天平,其中所述测定条件包含自开始对所述电子天平通电时起至测定所述对象物的质量时为止的时间。
15.根据权利要求8至10中任一项所述的电子天平,其中所述对象物的识别信息被输入到所述电子天平,所述发送部将所述对象物的识别信息、所述对象物的测定结果与所述测定条件发送至所述外部装置,以使所述外部装置对应存储所述对象物的识别信息、所述对象物的测定结果与所述测定条件。
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