[发明专利]一种声衰减检测方法及装置、存储介质

权利要求书

1.一种声衰减检测方法，其特征在于，所述方法包括：

从目标组织接收超声回波；

从所述超声回波中提取基波信号和谐波信号；

利用所述基波信号获取第一预设深度的第一基波声强度参数和第二预设深度的第二基波声强度参数；

利用所述谐波信号获取所述第一预设深度的第一谐波声强度参数和所述第二预设深度的第二谐波声强度参数；

利用所述第一基波声强度参数和所述第二基波声强度参数计算基波声衰减相关参数；

利用所述第一谐波声强度参数和所述第二谐波声强度参数计算谐波声衰减相关参数；

利用所述基波声衰减相关参数和所述谐波声衰减相关参数，确定所述目标组织的衰减特征。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一基波声强度参数和所述第二基波声强度参数计算基波声衰减相关参数包括：

根据所述第一基波声强度参数、所述第二基波声强度参数、深度差值和发射频率，计算出第一基波声衰减系数，并将所述第一基波声衰减系数确定为所述基波声衰减相关参数，其中所述深度差值为所述第一预设深度和所述第二预设深度的深度差，所述发射频率为向所述目标组织发射超声波的频率；

或者

根据所述第一基波声强度参数、所述第二基波声强度参数和深度差值，计算出第一基波衰减参数，并将所述第一基波衰减参数确定为所述基波声衰减相关参数，其中所述深度差值为所述第一预设深度和所述第二预设深度的深度差；

或者

根据所述第一基波声强度参数和所述第二基波声强度参数，计算基波声强度参数差值，并将所述基波声强度参数差值确定为所述基波声衰减相关参数；

或者

根据所述第一基波声强度参数和所述第二基波声强度参数，计算基波声强度参数比值，并将所述基波声强度参数比值确定为所述基波声衰减相关参数；

或者

对所述第一基波声强度参数和所述第二基波声强度参数进行拟合，获得所述基波声衰减相关参数。

3.根据权利要求1或者2所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一谐波声强度参数和所述第二谐波声强度参数计算谐波声衰减相关参数，包括：

根据所述第一谐波声强度参数、所述第二谐波声强度参数、深度差值和发射频率，计算出第一谐波声衰减系数，并将所述第一谐波声衰减系数确定为所述谐波声衰减相关参数，其中所述深度差值为所述第一预设深度和所述第二预设深度的深度差，所述发射频率为向所述目标组织发射超声波的频率；

或者

根据所述第一谐波声强度参数、所述第二谐波声强度参数和所述深度差值，计算出第一谐波衰减参数，并将所述第一谐波衰减参数确定为所述谐波声衰减相关参数，其中所述深度差值为所述第一预设深度和所述第二预设深度的深度差；

或者

根据所述第一谐波声强度参数和所述第二谐波声强度参数，计算谐波声强度参数差值，并将所述谐波声强度参数差值确定为所述谐波声衰减相关参数；

或者

根据所述第一谐波声强度参数和所述第二谐波声强度参数，计算谐波声强度参数比值，并将所述谐波声强度参数比值确定为所述谐波声衰减相关参数；

或者

对所述第一谐波声强度参数和所述第二谐波声强度参数进行拟合，获得所述谐波声衰减相关参数。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述利用所述基波声衰减相关参数和所述谐波声衰减相关参数，确定所述目标组织的衰减特征，包括：

计算所述基波声衰减相关参数和所述谐波声衰减相关参数之间的参数比值或者参数均值，并利用所述参数比值或者所述参数均值确定所述目标组织的衰减特征。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一基波声强度参数和所述第二基波声强度参数计算基波声衰减相关参数；利用所述第一谐波声强度参数和所述第二谐波声强度参数计算谐波声衰减相关参数之后，所述方法还包括：

显示所述基波声衰减相关参数和/或所述谐波声衰减相关参数。