[发明专利]用于磁瓦检测的照明装置及用于磁瓦检测的检测系统

权利要求书

1.一种用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：所述用于磁瓦检测的照明装置包括一半球形的外壳及与外壳底部连接的连接板，所述外壳底部具有一开口，在所述连接板上开设有小于开口尺寸的第二通孔，所述外壳连接在连接板的一面且开口的中垂线与第二通孔的中垂线重合，在连接板的另一面固定设置有固定部，所述固定部上设置有至少两补光灯，所述补光灯沿第二通孔均匀设置。

2.如权利要求1所述的用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：所述固定部包括固定架与固定板，所述固定架一端与连接部固定连接，另一端与固定板固定连接，每一所述补光灯对应两块所述固定板，所述补光灯的两端分别与固定板连接。

3.如权利要求2所述的用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：所述补光灯包括灯体与连接在灯体两端的螺栓，所述螺栓可旋进或旋离灯体，在固定板上设置有槽孔，所述螺栓包括固定连接的头部与螺杆，所述螺杆部分位于槽孔中，部分位于灯体中，所述头部位于固定板远离灯体的一端，通过螺杆旋离灯体减少头部对固定板的压紧力以调节补光灯所处固定板的位置，通过螺杆旋近灯体增加头部对固定板的压紧力以将补光灯与固定板固定连接。

4.如权利要求3所述的用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：所述槽孔在固定板上呈直线形或曲线形。

5.如权利要求1所述的用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：所述补光灯包括壳体、条形光源与漫反射板，所述壳体具有一开口，所述条形光源位于壳体中，所述漫反射板固定于壳体的开口处，所述条形光源发出的光经由漫反射板从壳体中均匀发射出。

6.如权利要求1所述的用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：在连接板靠近外壳的一侧上设置有弧形光源组，且所述弧形光源组设置在外壳内，所述弧形光源组沿外壳底部的开口均匀设置。

7.如权利要求6所述的用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：在所述弧形光源组靠近第二通孔的一侧设置有挡光板，所述挡光板位于弧形光源组与第一通孔之间用于挡住弧形光源组发出的光线直接射入第一通孔。

8.如权利要求7所述的用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：在所述外壳内表面均匀喷涂有高反光率漫反射反光材料。

9.如权利要求6所述的用于磁瓦检测的照明装置，其特征在于：所述用于磁瓦检测的照明装置还包括控制部，所述控制部分别与弧形光源组和补光灯连接，所述控制部用于控制弧形光源组和补光灯的亮度。

10.一种用于磁瓦检测的检测系统，用于检测磁瓦是否存在缺陷，其特征在于：所述用于磁瓦检测的检测系统包括如权利要求1-9中任一项所述的用于磁瓦检测的照明装置，所述用于磁瓦检测的检测系统还包括工业相机与工业计算机，所述工业相机与工业计算机连接，在所述外壳顶部开设有第一通孔，所述工业相机设置在第一通孔处用于拍摄被所述用于磁瓦检测的照明装置曝光的所述磁瓦并生成图像传输给工业计算机，所述工业计算机对接收的图像进行处理以检测图像中曝光的磁瓦是否存在缺陷。