[发明专利]显示功能检测系统

说明书

一种显示功能检测系统，包括同时具有外接显卡及集成显卡的电子装置、与所述外接显卡电连接的第一显示屏及与集成显卡电连接的第二显示屏，所述电子装置包括BIOS芯片以及屏蔽单元。所述BIOS芯片包括第一检测模块、第二检测模块以及重启模块。所述第一检测模块及第二检测模块分别用于测试外接显卡及集成显卡的显示功能。所述重启模块用于在第一检测模块测试外接显卡后或者所述第二检测模块测试集成显卡后重启电子装置。所述屏蔽单元用于在第一检测模块测试外接显卡时屏蔽集成显卡的显示功能，或者在所述第二检测模块测试集成显卡时屏蔽外接显卡的显示功能。如此，将提高检测效率。

技术领域

本发明涉及一种显示功能检测系统。

背景技术

计算机装置在出厂前需要对其功能进行检测，而对计算机装置的显示功能进行检测是其中一个重要的检测项目。通常将该检测项目分为外接显卡的检测和集成显卡的检测两部分。

然而，在检测集成显卡时，需要手动将外接显卡从电子装置上拔出，从而使显示器通过集成显卡进行显示。如此，将降低检测效率。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种能提高检测效率的显示功能检测系统。

一种显示功能检测系统，包括同时具有外接显卡及集成显卡的电子装置、与所述外接显卡电连接的第一显示屏及与集成显卡电连接的第二显示屏，所述电子装置包括BIOS芯片以及屏蔽单元；

所述BIOS芯片包括第一检测模块、第二检测模块以及重启模块，所述第一检测模块及所述第二检测模块分别用于测试所述外接显卡及所述集成显卡的显示功能，所述重启模块用于在所述第一检测模块测试所述外接显卡的显示功能后或者所述第二检测模块测试所述集成显卡的显示功能后重启所述电子装置；以及

所述屏蔽单元用于在所述第一检测模块测试所述外接显卡的显示功能时屏蔽所述集成显卡的显示功能，或者在所述第二检测模块测试所述集成显卡的显示功能时屏蔽所述外接显卡的显示功能。

进一步地，所述电子装置还包括连接槽及连接器，所述连接槽与所述连接器均电连接于所述BIOS芯片，所述连接槽还与所述外接显卡电连接，所述连接器还电连接于所述集成显卡及所述第二显示屏之间。

进一步地，当所述第一检测模块测试所述外接显卡的显示功能时，所述BIOS芯片控制所述屏蔽单元输出第一屏蔽信号至所述连接器，以屏蔽所述集成显卡的显示功能；当所述第二检测模块测试所述集成显卡的显示功能时，所述BIOS芯片控制所述屏蔽单元输出第二屏蔽信号至所述连接槽，以屏蔽所述外接显卡的显示功能。

进一步地，所述电子装置还包括输入输出芯片，所述输入输出芯片电连接于所述BIOS芯片及所述屏蔽单元之间，所述输入输出芯片用于在所述BIOS芯片的控制下发出控制信号至所述屏蔽单元，所述屏蔽单元根据所述控制信号输出对应的屏蔽信号以屏蔽所述外接显卡或所述集成显卡的显示功能。

进一步地，所述第一屏蔽信号及所述第二屏蔽信号均为高电平信号。

进一步地，所述屏蔽单元包括电子开关及第一电阻，所述连接槽包括第一侦测引脚，所述连接器包括第二侦测引脚，所述电子开关的第一端电连接至所述连接槽的第一侦测引脚，所述电子开关的第一端还与所述输入输出芯片电连接，所述电子开关的第二端电连接至所述连接器的第二侦测引脚，所述电子开关的第二端还通过所述第一电阻电连接至电源，所述电子开关的第三端接地。

进一步地，所述屏蔽单元还包括第二电阻，所述电子开关的第一端还通过所述第二电阻电连接至所述电源。

进一步地，所述电子开关为N沟道增强型场效应管。

进一步地，所述电子开关的第一端、第二端及第三端分别对应于N沟道增强型场效应管的栅极、漏极及源极。

进一步地，所述电源输出3.3伏特的电压。