[发明专利]一种提高BiVO4有效

专利信息
申请号: 201910612485.2 申请日: 2019-07-09
公开(公告)号: CN110444402B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 郭探;云山;洪坤;陈静;张加栋;朱秀芳 申请(专利权)人: 淮阴工学院
主分类号: H01G9/20 分类号: H01G9/20;H01G9/042
代理公司: 淮安市科文知识产权事务所 32223 代理人: 马海清
地址: 223005 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 bivo base sub
【权利要求书】:

1.一种提高BiVO4光阳极光电化学性能的方法,其特征在于:按照以下步骤:

清洗基材后干燥——基材置于沉积室,然后在基材表面采用直流磁控溅射法沉积钒酸铋薄膜,沉积5~60min后得光催化薄膜——光催化薄膜在300-500oC热处理2h,升温速度为1-20oC/min——光催化薄膜送入刻蚀室,采用直流等离子法刻蚀光催化薄膜,刻蚀5-30min后即得优化的钒酸铋薄膜;所述沉积室本底真空度小于10-4Pa,直流磁控溅射法条件具体如下:溅射气体为氩气和氧气,总压强为0.5~2.5 Pa,氧分压为0~10 %,靶材与基材的距离为7~20 cm,初始基底温度为15℃-35℃,施加于所述靶材上的直流电源的功率为 50~500W;

清洗基材后干燥——基材置于刻蚀室,然后采用直流等离子法刻蚀基材——基材置于沉积室,然后在基材表面采用直流磁控溅射法沉积钒酸铋薄膜,沉积5~60min后得光催化薄膜——光催化薄膜在300-500oC热处理2h,升温速度为1-20oC/min,热处理后降至室温即得优化的钒酸铋薄膜;所述刻蚀室本底真空度小于5Pa,直流等离子法条件具体如下:刻蚀气氛Ar或者Ar/H2混合气体,气体流速为50-100 sccm,气体压力为5-20 Pa,设备电极与基材的距离为7~20 cm,初始基底温度为 15~35 ℃,刻蚀功率为5-200 W。

2.根据权利要求1所述的一种提高BiVO4光阳极光电化学性能的方法,其特征在于:所述清洗基材的方法是依次用丙酮和无水乙醇各超声清洗30min;所述干燥方法为压缩空气吹干。

3.根据权利要求1所述的一种提高BiVO4光阳极光电化学性能的方法,其特征在于:所述靶材为钒酸铋陶瓷靶材。

4.根据权利要求1所述的一种提高BiVO4光阳极光电化学性能的方法,其特征在于:所述Ar/H2混合气体中H2含量小于3%。

5.根据权利要求1所述的一种提高BiVO4光阳极光电化学性能的方法,其特征在于:所述优化的钒酸铋薄膜厚度为50 ~ 500 nm。

6.根据权利要求1所述的一种提高BiVO4光阳极光电化学性能的方法,其特征在于:所述基材为FTO、ITO、AZO或ATO透明导电电极。

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