[发明专利]一种电性能测试设备集中测试的方法及系统在审
| 申请号: | 201910594635.1 | 申请日: | 2019-07-03 |
| 公开(公告)号: | CN110446026A | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
| 发明(设计)人: | 刘翔章;李新林;孙思凯 | 申请(专利权)人: | 深圳创维-RGB电子有限公司 |
| 主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;H04N17/04 |
| 代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
| 地址: | 518052 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试设备 测试项 测试参数 测试 电性能测试设备 参数配置 测试设备配置 测试电性能 工作效率 关系查找 整机产品 直接选择 自动查找 预设 发送 成功 开发 | ||
1.一种电性能测试设备集中测试的方法,其特征在于,其包括:
当接收到待测试电性能项目的测试项时,根据预设的测试项与测试设备和测试参数的对应关系查找所述测试项对应的若干测试设备和若干测试参数;
将各测试设备对应的测试参数发送至各测试设备,以使得各测试设备进行参数配置;
当所有测试设备配置成功后,开启所述测试项的测试任务。
2.根据权利要求1所述电性能测试设备集中测试的方法,其特征在于,还包括:
预先存储测试项与测试设备和测试参数的对应关系。
3.根据权利要求2所述电性能测试设备集中测试的方法,其特征在于,所述测试项与测试设备和测试参数的对应关系具体为:
所述测试项对应若干测试设备和若干测试参数,其中,所述测试设备与测试参数一一对应。
4.根据权利要求1所述电性能测试设备集中测试的方法,其特征在于,所述当所有测试设备配置成功后,开启所述测试项的测试任务具体包括:
当所有测试设备配置成功后,显示界面显示参数配置成功,并开启所述测试项的测试任务。
5.根据权利要求1所述电性能测试设备集中测试的方法,其特征在于,还包括:
当存在测试设备配置错误时,通过显示界面显示测试参数配置失败对应的测试设备;
产生测试参数配置失败的提示音,并通过所述提示音提示测试人员测试参数配置失败。
6.根据权利要求5所述电性能测试设备集中测试的方法,其特征在于,还包括:
提醒测试人员检查所述测试参数配置失败对应的测试设备是否通电;
在确认所述测试设备通电时,检测所述测试设备的通信接口是否已正确连接。
7.根据权利要求1所述电性能测试设备集中测试的方法,其特征在于,所述测试电性能项目包括若干测试项,每个测试项对应一个测试任务,所述各测试任务依次进行。
8.一种电性能测试设备集中测试的系统,其特征在于,包括:主IC和存储器;所述存储器上存储有可被所述主IC执行的计算机可读程序;所述主IC执行所述计算机可读程序时实现如权利要求1~7任意一项所述电性能测试设备集中测试的方法中的步骤。
9.一种计算存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个主IC执行,以实现如权利要求1~7任意一项所述电性能测试设备集中测试的方法中的步骤。
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