[发明专利]一种基于串口协议的Pattern更新芯片FT测试程序的方法

说明书

本发明公开的一种基于串口协议的Pattern更新芯片FT测试程序的方法，该方法包括如下步骤：将芯片测试程序转换为符合串口协议的二进制数据；将二进制数据转换为串口时序pattern；芯片测试程序正常工作，基台测试程序告知芯片测试程序进入程序烧写模式；芯片测试程序读取串口数据直到基台测试程序告知数据已传输完成；数据传输完成后，芯片测试程序进行烧写收到的数据；更新芯片测试程序完成，本发明无需另外的接线，无需焊接，也不需要由芯片厂商工程师出差，提供芯片测试程序的文件即可，简单方便，不存在将存储介质及FT测试板损坏的风险，处理周期较短，无需芯片测试程序与芯片厂商工程师的配合，对于操作员的要求低。

技术领域

本发明涉及一种更新芯片FT测试程序的方法，更具体一点说，涉及一种基于串口协议的Pattern更新芯片FT测试程序的方法，属于芯片测试领域。

背景技术

目前，芯片的FT测试需要运行在芯片测试机，即基台上面的程序(基台测试程序)和运行在待测芯片上面的程序(芯片测试程序)配合完成。基台测试程序一般由封装厂测试工程师开发，而运行在待测芯片上面的程序通常由芯片厂商开发，但通常芯片厂商没有测试基台，这样直接导致芯片厂商更新芯片测试程序只能通过：

1、芯片厂商工程师到封装厂出差更新调试；

2、芯片厂商将存有芯片测试程序的存储介质寄给封测厂对接的测试工程师，由其更换存储介质；

3、封测厂将FT测试板寄回给芯片厂商，由芯片厂商更新好之后再寄回给封测厂。

上述第一种方法成本较高，第二种方法在更换存储介质(如Flash)时会使用焊洛铁等设备，存在将存储介质及FT测试板损坏的风险，而第三种方法周期较长，且芯片厂商无法及时的验证芯片测试程序。

因此更新芯片测试程序需要芯片厂商工程师的配合，但实际上FT测试板是在封装厂，而封装厂测试工程师并不熟悉芯片的工作原理，水平有限，难以由测试工程师来实施，所以可消除由更新芯片测试程序带来的FT测试板损坏的风险，简化更新芯片测试程序流程的方法是研究发展的必然趋势。

发明内容

为了解决上述现有技术问题，本发明提供具有可消除由于更新芯片测试程序带来的FT测试板损坏的风险，简化更新芯片测试程序流程，对于工程师的要求降低等技术特点的一种基于串口协议的Pattern更新芯片FT测试程序的方法。

为了实现上述目的，本发明是通过以下技术方案实现的：

一种基于串口协议的Pattern更新芯片FT测试程序的方法，该方法包括如下步骤：

步骤1):将芯片测试程序转换为符合串口协议的二进制数据；

步骤2):将步骤1)中的二进制数据转换为串口时序pattern；

步骤3):正常上电以使芯片测试程序正常工作，基台测试程序告知芯片测试程序进入程序烧写模式；

步骤4):芯片测试程序读取串口数据直到基台测试程序告知数据已传输完成；

步骤5):数据传输完成后，芯片测试程序进行烧写收到的数据；

步骤6):更新芯片测试程序完成。

作为一种改进，所述二进制数据包括起始码、停止位。

作为一种改进，所述串口时序pattern具有特定波特率，所述特定波特率为115200。

作为一种改进，步骤1)至步骤2)具体过程包括：

a)将待升级的芯片测试程序BIN文件读入到一个字符数组当中；

b)将字符数组里的数据转换为二进制格式，转存到另外一个数组，获得二进制数据数组；