[发明专利]一种压延膜厚度自动控制方法

说明书

本发明公开一种压延膜厚度自动控制方法，该方法为：检测装置发现厚度快超过公差范围或不合格时，立即通过反馈装置进行反馈，再计算出应调整的参数，输入到压延机调节系统，调节系统实现具体调节工作，从而得到厚度符合要求的压延膜；具体为检测装置发现厚度快超过公差范围或不合格时，立即通过反馈装置将实时厚度值传递至曲线拟合算法，根据测得的厚度值与预先输入的目标值的对比结果做出判断，判断该值是否在公差范围内。本发明的控制方法不需要人工测量，且软件控制快速准确；其次，本发明通过提供三种厚度自动控制方法，厚度控制方式灵活。

技术领域

本发明涉为一种压延膜厚度自动调节装置，属于薄膜生产领域。

背景技术

近年来国民经济快速发展，对塑料薄膜制品需求量不断攀升，塑料挤出行业发展迅速。塑料薄膜生产过程中，厚度控制是关键步骤之一，薄膜厚度控制的精确度直接关系到成品的质量。国外学者针对塑料薄膜厚度控制技术已经开展了几十年的研究，且成果显著、技术成熟，较著名的有德国BRUECKNER、日本三菱、法国TMD。目前国内薄膜厚度控制系统主要采取传统PID控制，PID参数还依靠操作工人凭经验手动“试凑”，控制精度低且系统收敛时间长，造成材料的浪费。

薄膜的吹塑和双向拉伸厚度自动控制的例子很多，前者是通过生产不同的机头满足厚度控制要求，后者则采用厚度测量系统配合软件程序等实现自动控制。

市面上一种薄膜厚度控制系统结构如图1所示。其中，工控机用于薄膜厚度显示、控制系统启停等人机交互；薄膜测厚仪将测量的流延薄膜厚度信号通过总线传送给PLC，并由PLC上传至上位机软件进行控制算法计算，与设定的目标厚度进行比较，PLC通过模数转换模块输出模拟量电压至变频器，从而控制螺杆转速，达到控制挤出量进而动态调节薄薄膜厚度的。

薄膜厚度都是采用精度很高、非接触式测厚仪和反馈控制系统进行自动检测和控制。由于薄薄膜的性能、产品的厚度、设备的使用寿命及测量精度的要求不同，薄膜测厚探头的类型也不同。常用的测厚探头有β探头、红外探头、X射线探头等。或者采用简单无辐射的电容式厚度传感器。

专利93201649.9公开了一种压延膜厚度自动调节装置，该装置公开了利用β射线进行检测膜厚度，并设定差值在±1与±3之间。该专利只提供了检测厚度可通过β射线进行检测，其检测过程中并未考虑压延膜厚度如何精确控制，保证压延膜的厚度的均匀性。

此外，薄膜纵向厚度是产品合格的基本要求，但横向厚度差异仍存在且也是影响产品质量的重要因素。出现横向厚度差异的主要原因有：①原材料的波动；②张力的变化。

发明内容

本发明目的在于提供一种压延膜厚度自动控制方法。

实现本发明目的提供技术方案如下：

一种压延膜厚度自动控制方法，该方法为：

检测装置发现厚度快超过公差范围或不合格时，立即通过反馈装置进行反馈，再计算出应调整的参数，输入到压延机调节系统，调节系统实现具体调节工作，从而得到厚度符合要求的压延膜；

具体为检测装置发现厚度快超过公差范围或不合格时，立即通过反馈装置将实时厚度值传递至曲线拟合算法，根据测得的厚度值与预先输入的目标值的对比结果做出判断，判断该值是否在公差范围内，若在，则压延过程正常进行，若该值不在公差之内，则将该值与设定值做出比较并计算出正确的设置值，曲线拟合算法将该值传递给压延机调节系统，根据差值大小控制压延机自动做出调整，从而得到厚度符合要求的压延膜。

进一步的，厚度公差为±10μm。

调整膜厚度的方法具体如下，即调间隙、调张力和调速度。调间隙的方式用于检测到的实际厚度与目标厚度相差大于0.050mm的情况下的厚度调整；调张力和调速度的方式用于检测到的实际厚度与目标厚度相差小于0.050mm的情况下的厚度调整。