[发明专利]显示亮度调试方法以及装置

说明书

本申请涉及一种显示亮度调试方法以及装置。方法包括：将显示面板划分为n个测试区块，相邻两个测试区块之间具有过渡区，n为大于1的正整数。测试各测试区块的显示亮度。选择其中一个测试区块作为参考区块。根据参考区块的显示亮度与其他各测试区块的显示亮度的差异，对其他各测试区块的背光亮度进行补偿。调整过渡区的背光亮度，使得至少一个过渡区的背光亮度位于其两侧的两个相邻测试区块的补偿后的背光亮度之间。本申请的显示亮度调试方法以及装置可以有效提高显示均匀度。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示亮度调试方法以及装置。

背景技术

随着显示技术的发展，人们对于显示均匀性的要求越来越高。对于显示面板的显示亮度的调试方法，目前通常是对子像素的充电时间进行调整，进而调整充电量，从而调整显示亮度。

但是，受到走线阻抗以及寄生电容等的影响，充电时间与显示亮度并不是线形的。因此，上述显示亮度的均匀度仍有待提高。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种提高显示均匀度的显示亮度调试方法以及装置。

上述显示亮度调试方法以及装置，以参考区块的显示亮度为参考，对其他各测试区块的背光亮度进行补偿。进而使得整个显示面板可以更加均匀的显示。并且，本实施例显示亮度调试装置的至少一个过渡区的调整后的背光亮度位于其两侧的两个相邻测试区块的补偿后的背光亮度之间。因此，相应的相邻测试区块的亮度可以进行较均匀地过渡，进而进一步提高了显示面板的均匀性。

附图说明

图1为一个实施例中显示亮度调试方法流程示意图；

图2为一个实施例中显示面板及其显示亮度示意图；

图3为一个实施例中显示面板及其背光亮度示意图；

图4为一个实施例中选择其中一个测试区块作为参考区块的流程示意图；

图5-图8为不同实施例中判断各测试区块的灰阶所在的范围，并根据判断结果选择参考区块的流程示意图；

图9为一个实施例中根据参考区块的显示亮度与其他各测试区块的显示亮度的差异，对其他各测试区块的背光亮度进行补偿的流程示意图；

图10为一个实施例中显示亮度调试装置模块示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请提供的显示亮度调试方法，可以但不限于应用于液晶显示产品的显示亮度的调试。

在一个实施例中，参考图1以及图2，提供了一种显示亮度调试方法，包括：

步骤S1，将显示面板100划分为n个测试区块110，相邻两个测试区块110之间具有过渡区120，n为大于1的正整数。

这里的n为大于1的正整数，即将显示面板划分为至少两个测试区块110。具体地测试区块110的数量可以根据实际需求进行设计。一般地，可以将测试区块110划分为9个测试区块。各个测试区块110的形状尺寸可以相同，也可以不同，其也可以根据实际需求进行设计。

步骤S2，测试各测试区块110的显示亮度。

显示亮度即显示面板最终显示出来的亮度。这里对每个测试区块110进行显示亮度的测量。在图2中，显示面板100划分为9个形状尺寸相同的测试区块110，各测试区块110的显示亮度分别为x1-x9。

步骤S3，选择其中一个测试区块110作为参考区块110a。