[发明专利]涉及自测试电压调节电路的设备和方法

说明书

一种设备实施例包括：电压调节器电路，其提供调节电压供应信号；逻辑状态电路系统；测试控制电路系统；以及供应信号监测电路。逻辑状态电路系统包括逻辑模块，逻辑模块在应用控制自测试模式之间被重新配置，在应用控制自测试模式下，数据被移位通过逻辑模块并同时由调节电压供应信号供电。测试控制电路系统通过致使数据的预定集移位通过逻辑模块来操作控制自测试模式，并通过对电压调节器电路加压而致使逻辑状态电路系统对电压调节器电路加载。供应信号监测电路监测调节电压供应信号的质量参数并提供调节电压供应信号的特性的指示，特性影响电压调节器电路与有缺陷的电路系统相关联的可能性。

技术领域

各个实施例的方面涉及使用变化的负载条件来自测试电压调节电路。

背景技术

线性电压调节器电路用于维持稳定的电压。举例来说，调节器输出传递装置的电阻根据负载电流而变化，从而产生恒定的电压输出。对于各个实施方案，标准可能要求电压调节电路的参数在各种限度内和/或在所述电路的寿命期间保持如此。

对于多种应用，这些和其它事项已对自测试电压调节电路实施方案提出了挑战。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供一种设备，包括：

电压调节器电路，其被配置和布置成提供调节电压供应信号作为电压电源；

逻辑状态电路系统，其包括逻辑模块，所述逻辑模块被配置和布置成在应用模式与控制自测试模式之间被重新配置，在所述应用模式和所述控制自测试模式下，数据响应于时钟信号而被移位通过所述逻辑模块，同时由所述调节电压供应信号供电；

测试控制电路系统，其被配置和布置成通过使用扫描模式致使所述数据的预定集移位通过所述逻辑模块来操作所述控制自测试模式，所述扫描模式通过对所述电压调节器电路加压而致使所述逻辑状态电路系统对所述电压调节器电路加载，其中所述数据的所述预定集致使所述逻辑状态电路系统的所述逻辑模块中的每个逻辑模块针对所述控制自测试模式被练习；以及

供应信号监测电路，其被配置和布置成监测所述调节电压供应信号的至少一个质量参数并作为响应而提供所述调节电压供应信号的特性的指示，所述特性影响所述电压调节器电路的持续操作与有缺陷的电路系统相关联的可能性。

在一个或多个实施例中，所述测试控制电路系统和所述供应信号监测电路被合作地配置和布置成在所述控制自测试模式期间使对所述电压调节器电路的压力最大化，同时使用所述供应信号监测电路来测试所述电压调节器电路。

在一个或多个实施例中，所述逻辑模块包括可配置用于在所述控制自测试模式下作为扫描链而操作的多路复用器和触发器，且其中所述测试控制电路系统被进一步配置和布置成通过使所述数据以包括反馈的循环方式移位而致使所述逻辑状态电路系统对所述电压调节器电路加载，其中所述数据被移位通过和离开所述扫描链并回到所述扫描链的输入中，使得在所述控制自测试模式期间正被移位的所述数据开始时，所述数据在所述逻辑状态电路系统中被还原。

在一个或多个实施例中，所述逻辑模块是可配置用于在所述控制自测试模式下操作的扫描链，且其中所述测试控制电路系统被进一步配置和布置成通过使所述数据以包括反馈的循环方式移位而致使所述逻辑状态电路系统极端地对所述电压调节器电路加载，以使得到n个移位时钟循环时通过所述逻辑状态电路系统进行数目n次数据移位，所述逻辑状态电路系统的先前内容被还原。

在一个或多个实施例中，所述测试控制电路系统被进一步配置和布置成通过致使预定义数据样式移位通过所述逻辑状态电路系统而致使所述逻辑状态电路系统对所述电压调节器电路加载，且所述预定义数据样式致使所述逻辑状态电路系统极端地对所述电压调节器电路加载。

在一个或多个实施例中，所述电压调节器电路包括低压差电压调节器(LDO)。

在一个或多个实施例中，所述测试控制电路系统被进一步配置和布置成提供所述时钟信号。