[发明专利]电子设备的频率校准方法、装置、介质及电子设备

说明书

本公开实施例提供了一种电子设备的频率校准方法、装置、介质及电子设备。所述电子设备包括晶体振荡器，该电子设备的频率校准方法包括：在所述电子设备的工厂生产线的工艺流程中，获取所述晶体振荡器在预设温度区间中的每一采样温度下的实际输出频率；基于每一采样温度及其对应的实际输出频率和期望频率修正所述晶体振荡器的温度频率偏差特性函数的参数；根据修正后的温度频率偏差特性函数校准所述晶体振荡器的输出频率。本公开实施例的技术方案通过在工厂生产过程中，在包含预设温度区间的环境中对晶体振荡器的实际输出频率进行采样，以修正晶体振荡器的频率偏差特性函数的参数，能够在电子设备的生产过程中实现频率校准，提高频率准确度。

技术领域

本公开涉及晶体振荡器测试领域，具体而言，涉及一种电子设备的频率校准方法、装置、介质及电子设备。

背景技术

石英晶体本身具有压电效应，晶体振荡器可产生非常稳定的谐振频率，可作为电子产品的时钟频率，因此被称为电子产品的心脏。

目前，为实现电子设备的频率校准，首先在生产过程中进行粗校准，然后在出厂后的使用过程中，通过联网进行电子设备的频率参数的持续调整，然而出厂后的持续调试过程耗时较长，初期将无法保证电子设备定位精度的准确度。

相关技术中，还可采用温控晶体振荡器和压控晶体振荡器实现电子设备的时钟频率校准，然而，温控晶体振荡器和压控晶体振荡器的外围电路复杂，在印制电路板(Printedcircuit board，PCB)中占板率较大，且相比于普通晶体振荡器具有较高的成本。

因此，需要一种新的电子设备的频率校准方法、装置、介质及电子设备。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开实施例提供一种电子设备的频率校准方法、装置、介质及电子设备，进而至少在一定程度上克服相关技术中存在的由于电子设备的频率校准耗时较长造成前期输出频率准确性低或者相关技术中的温控晶体振荡器、压控晶体振荡器由于外围电路复杂造成的占板面积大且成本较高的技术问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的一个方面，提供一种电子设备的频率校准方法，所述电子设备包括晶体振荡器；所述方法包括：在所述电子设备的工厂生产线的工艺流程中，获取所述晶体振荡器在预设温度区间中的每一采样温度下的实际输出频率；基于每一采样温度及其对应的实际输出频率和期望频率修正所述晶体振荡器的温度频率偏差特性函数的参数；根据修正后的温度频率偏差特性函数校准所述晶体振荡器的输出频率。

在本公开的一种示例性实施例中，所述电子设备包括载板，所述晶体振荡器贴片于所述载板上，所述电子设备还包括电源管理芯片，所述电源管理芯片与所述晶体振荡器电连接，所述方法应用于所述电源管理芯片。

在本公开的一种示例性实施例中，所述电子设备的工厂生产线的工艺流程包括所述电子设备的老化测试流程。

在本公开的一种示例性实施例中，所述预设温度区间包括第一温度区间、第二温度区间和第三温度区间，其中所述第一温度区间的温度低于所述第二温度区间的温度，所述第二温度区间低于所述第三温度区间的温度。

在本公开的一种示例性实施例中，所述参数包括第一参数和第二参数；其中，基于每一采样温度及其对应的实际输出频率和期望频率修正所述晶体振荡器的温度频率偏差特性函数的参数，包括：基于所述第二温度区间的每一采样温度及其对应的实际输出频率，确定所述第二温度区间的每一采样温度的第一频率偏差值；根据所述第一频率偏差值和所述期望频率修正所述第一参数和所述第二参数。