[发明专利]用于确定ADC的校准值的设备

说明书

公开一种用于确定ADC的一个或多个校准值的设备，所述设备被配置成接收第一参考信号和第二参考信号，并将以下项应用于ADC：在第一信号应用周期内，将包括所述第一参考信号的第一ADC输入信号应用于所述ADC；在第二信号应用周期内，将第二ADC输入信号应用于所述ADC，所述第二ADC输入信号与所述第一ADC输入信号具有大体上相等的量值和相反的极性；在第三信号应用周期内，将包括所述第二参考信号的第三ADC输入信号应用于所述ADC；以及在第四信号应用周期内，将第四ADC输入信号应用于所述ADC，所述第四ADC输入信号与所述第三ADC输入信号具有大体上相等的量值和相反的极性，所述设备被配置成至少部分基于ADC在四个信号应用周期内的ADC输出信号而确定一个或多个校准值。

技术领域

本公开涉及一种用于确定模/数转换器(analog-to-digital converter，ADC)的一个或多个校准值的设备和一种对应方法。本公开还涉及一种包括用于确定ADC的一个或多个校准值的设备的时间交错式ADC系统。

背景技术

模/数转换器(ADC)会在其寿命期间遭受定时、偏移和增益减损。这些减损对于时间交错式ADC系统会是特定的问题，相比于使用单个ADC，所述ADC系统并行地利用若干ADC操作以按提高的速率处理数据流。尽管本公开主要参考时间交错式ADC系统论述设备和方法，但应了解，本文中所描述的设备和方法对于包括校准被需要或有益的一个或多个ADC的其它系统可以是有利的。

发明内容

根据本公开的第一方面，提供一种用于确定模/数转换器ADC的一个或多个校准值的设备，

所述设备被配置成接收第一参考信号和第二参考信号，并基于所述第一参考信号和所述第二参考信号而在四个单独信号应用周期将以下项应用于所述ADC：

在第一信号应用周期内，将包括所述第一参考信号的第一ADC输入信号应用于所述ADC；

在第二信号应用周期内，将第二ADC输入信号应用于所述ADC，所述第二ADC输入信号与所述第一ADC输入信号具有大体上相等的量值和相反的极性；

在第三信号应用周期内，将包括所述第二参考信号的第三ADC输入信号应用于所述ADC；以及

在第四信号应用周期内，将第四ADC输入信号应用于所述ADC，所述第四ADC输入信号与所述第三ADC输入信号具有大体上相等的量值和相反的极性，

所述设备被配置成至少部分基于所述ADC的所述四个信号应用周期内的ADC输出信号而确定所述一个或多个校准值。

在一个或多个实施例中，所述一个或多个校准值可包括偏移校准值和增益校准值中的一个或多个，其中：(i)可将所述偏移校准值计算为所述四个信号应用周期内的所述ADC输出信号的总和；且(ii)可将所述增益校准值计算为以下各项的总和：(a)包括所述第一信号应用周期内的所述ADC输出信号和所述第二信号应用周期内的所述ADC输出信号中的一个的信号和与所述第一信号应用周期内的所述ADC输出信号和所述第二信号应用周期内的所述ADC输出信号中的另一个具有大体上相等的量值和相反的极性的信号；以及(b)包括所述第三信号应用周期内的所述ADC输出信号和所述第四信号应用周期内的所述ADC输出信号中的一个的信号和与所述第三信号应用周期内的所述ADC输出信号和所述第四信号应用周期内的所述ADC输出信号中的另一个具有大体上相等的量值和相反的极性的信号。

在一个或多个实施例中，计算信号的总和可包括将多个信号相加到一起，或替代地，可包括将一些信号相加到一起并从总和减去其它信号。应了解，在总和中减去一些信号在数学上相当于使信号的极性反转并将反相后的信号相加到总和。

在一个或多个实施例中，所述第一信号应用周期可与所述第二信号应用周期的持续时间大体上相等。在一个或多个实施例中，所述第三信号应用周期可与所述第四信号应用周期的持续时间大体上相等。在一个或多个实施例中，所述信号应用周期中的每一个的持续时间可以大体上相等。