[发明专利]一种基于关键路径复制的电路最高工作频率测试方法有效
| 申请号: | 201910440387.5 | 申请日: | 2019-05-24 |
| 公开(公告)号: | CN110222388B | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
| 发明(设计)人: | 余宁梅;马文恒;海洋;叶晨;黄自力;张文东 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
| 主分类号: | G06F30/3315 | 分类号: | G06F30/3315 |
| 代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 宁文涛 |
| 地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 关键 路径 复制 电路 最高 工作 频率 测试 方法 | ||
1.一种基于关键路径复制的电路最高工作频率测试方法,其特征在于,具体步骤如下:
步骤1,利用EDA工具对目标系统进行静态时序分析,得到关键路径上标准单元的延迟和连接信息;
步骤2,对关键路径的标准单元的延迟和连接信息进行完整复制,然后调整单元间导线电容使其大于原路径中的导线电容,确保复制的时序路径的延迟不小于原路径延迟;
步骤3,将复制得到的时序路径进行信号钳位,标出关键路径的输入端口,将除关键路径的输入端口外的其他端口进行钳位;
步骤4,将步骤3中进行信号钳位后的时序路径进行高低频率测试:
使用此方法对电路的最高工作频率进行测试时,首先给电路输入一个较低频率的时钟信号,此时电路中关键路径和复制时序路径都工作正常,CK为时钟信号,CKDF为时钟二分频信号,OUT为复制时序路径的输出信号,REQ为延迟相位检查信号,D1为复制时序路径延迟时间,D1在电路设计完成之后,其数值就已经固定;由于在复制时序路径时,其导线电容大于原关键路径导线电容,故原关键路径的延迟时间会大于D1;当电路工作在较低的时钟频率时,比较CKDF信号上升沿和REQ信号下降沿的相位差,两者相位差大于时钟周期T,证明原关键路径和复制时序路径都工作正常,时钟周期T大于D1,数据可以在一个时钟周期内通过原关键路径;
随后逐渐提高时钟频率,检查CKDF信号上升沿和REQ信号下降沿的相位差;当两者相位差等于时钟周期T时,复制时序路径的输入信号CKDF已经无法在一个时钟周期内完成数据的传输,延迟时间D1大于时钟周期T,证明该工作频率下,复制时序路径已经无法正常工作;由于复制关键路径时,所复制的时序路径的延迟会大于原关键路径延迟,所以原电路在该频率下可以正常工作;而此时的时钟频率又是电路关键路径正常工作的临界频率,由此便可以测出电路整体的最高工作频率。
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