[发明专利]一种下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法在审

专利信息
申请号: 201910403092.0 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN110132816A 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: 栾进华;何廷鹏;胡科;李甜;杨洁;杨柳;浮爱青;汪雄;车平平;李梦来 申请(专利权)人: 重庆地质矿产研究院
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08;G01N21/84;G01N23/2251
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 张先芸
地址: 401120 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 有机质 页岩 孔隙结构 孔隙结构分析 图像分析软件 定量分析 电镜观察 定量表征 二维扫描 孔径分布 孔隙形貌 特征参数 图像采集 孔隙度 面孔率 页岩气 勘测 切割 三维 尺度 参考 研究 重建 观察 分析
【权利要求书】:

1.一种下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)光学尺度、二维扫描电镜观察,并选取典型有机质三维切割重建,对目标有机质孔隙结构进行详细观察和图像采集;

2)利用图像分析软件对不同有机质面孔率、孔径分布、孔隙度等特征参数进行定量表征。

2.根据权利要求1所述下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法,其特征在于,所述步骤1)包括:

(1)在低倍镜即光学显微镜下观察有机质碎屑形状、大小、空间分布等特征,识别有机质形态;

(2)在高倍镜即扫描电镜下详细观察有机质孔隙的形状、产状、连通等情况,测量孔隙大小,并根据孔隙的多少和大小描述孔隙发育程度;

(3)依据有机质碎屑类型的不同,选择10μm×10μm的有机质颗粒,用超高分辨双束扫描电镜(FIB-SEM)进行连续切割和成像:设置电子束采集切割面成像参数,调整离子束流参数,采用仪器自带的软件进行连续离子束切割和电子束成像,切割间距可设置为5-20nm,切割图像一般在500张以上。

3.根据权利要求1所述下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法,其特征在于,所述步骤2)为:

(1)三维重构和数据处理:将三维切割的图像导入三维重建软件,滤波除噪,进行三维重建;依据矿物灰度的差异,将页岩有机质、孔隙、不同矿物进行分割重建;

(2)有机质孔隙结构分析:观察描述不同类型有机质的孔隙发育特征,包括不同有机质孔隙的形态、大小和分布特征;三维展示有机质孔隙的空间分布特征,定量评价有机质孔隙的孔径分布、孔隙度、连通性等特征。

4.根据权利要求1所述下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法,其特征在于,所述图像分析软件为JMicrovison或Avizo等图像分析软件。

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