[发明专利]激光调阻系统的控制方法

权利要求书

1.一种激光调阻系统的控制方法，用于对待调电阻(200)进行激光调阻，所述激光调阻系统包括主控装置(10)、激光切割装置(20)、量测装置(30)和通道转换装置(40)，其特征在于，所述方法包括：

S10，通过所述主控装置(10)控制所述激光切割装置(20)切割所述待调电阻(200)；

S20，当所述待调电阻(200)的阻值达到预设阻值时，通过所述主控装置(10)控制所述量测装置(30)停止输出量测电流，并控制所述激光切割装置(20)停止切割所述待调电阻(200)；

S30，当所述量测装置(30)停止输出量测电流后，通过所述主控装置(10)控制所述通道转换装置(40)中与所述待调电阻(200)对应的继电器(410)断开，完成所述待调电阻(200)的调阻过程。

2.根据权利要求1所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，所述步骤S10，包括：

S110，通过所述主控装置(10)控制所述通道转换装置(40)中与所述待调电阻(200)对应的所述继电器(410)吸合；

S120，通过所述主控装置(10)控制所述量测装置(30)向所述待调电阻(200)输入量测电流；

S130，通过所述主控装置(10)控制所述激光切割装置(20)切割所述待调电阻(200)。

3.根据权利要求2所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，所述步骤S110之前，包括：

S102，所述主控装置(10)接收远程控制指令，所述控制指令包括所述待调电阻(200)的位置信息和开始切割指令。

4.根据权利要求2所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，在所述步骤S120中，通过所述主控装置(10)控制所述量测装置(30)向所述待调电阻(200)输入的量测电流为恒定电流。

5.根据权利要求2所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，在所述步骤S130之前，包括：

S104，所述量测装置(30)多次测量所述待调电阻(200)的初始电压并计算初始电压的平均值，依据所述平均值以及输入所述待调电阻(200)的量测电流，计算所述待调电阻(200)的初始阻值。

6.根据权利要求1所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，所述步骤S10之后，包括：

S140，通过所述量测装置(30)测量所述待调电阻(200)的实时电压，并通过判断所述待调电阻(200)电压是否达到预设电压，进而判断所述待调电阻(200)的阻值是否达到预设阻值。

7.根据权利要求6所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，所述步骤S140，包括：

S141，通过所述量测装置(30)中的量测电路(310)测量所述待调电阻(200)的实时电压，并将测得的实时电压传输至所述量测装置(30)中的比较电路(320)；

S142，通过所述比较电路(320)判断所述待调电阻(200)的实时电压是否达到预设电压，进而判断所述待调电阻(200)的阻值是否达到预设阻值。

8.根据权利要求7所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，在所述步骤S142中，通过所述比较电路(320)中的比较器(321)判断所述待调电阻(200)的实时电压是否达到预设电压。

9.根据权利要求1所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，在所述步骤S30之后，包括：

S40，当所述待调电阻(200)的电阻值没有达到预设阻值时，所述量测装置(30)继续输出量测电流，所述主控装置(10)继续控制所述激光切割装置(20)切割所述待调电阻(200)。

10.根据权利要求1所述的激光调阻系统的控制方法，其特征在于，在所述步骤S30中，所述通道转换装置(40)中与所述待调电阻(200)对应的所述继电器(410)通过探针卡(50)与所述待调电阻(200)连接。