[发明专利]一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法

权利要求书

1.一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：

S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；

S2：测试N个元器件的串联电压为V1；

S3：N个元器件正常电压范围(Vmin Vmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格。

2.根据权利要求1所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：

当如果V1小于Vmin或者V1大于Vmax，还包括，

S4：将上述N个元器件按串联顺序分成两组分别为：N1个元器件和N2个元器件，即N1+N2=N；所述N1个元器件串联测试电压为V2，N1个元器件正常电压范围为（Vmin1 Vmax2），如果V2小于Vmin1，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于Vmax2，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于或等于Vmin1，且V2小于或等于Vmax2，则则N1个串联的元器件合格；所述N2个元器件串联测试电压为V3，N2个元器件正常电压范围为（Vmin3 Vmax4），如果V3小于Vmin3，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于Vmax4，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于或等于Vmin3，且V3小于或等于Vmax4，则N2个串联的元器件合格。

3.根据权利要求1所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：

串联的N个元器件为电参数要求一致的元器件，即每个元器件电压范围均要求为（VaVb），Va小于Vb；则N*Va=Vmin，N*Vb=Vmax。

4.根据权利要求1所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：

所述多元器件为多个LED灯珠；所述N大于等于5，且N小于等于15。

5.根据权利要求2所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：

当串联的N个元器件不合格时，N1和N2均合格时，需要将串联的N1个元器件和串联的N2个元器件分开使用，对于串联的N个元器件不可分拆时，则判定串联的N个元器件不合格。

6.一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，

S1：将M个元器件并联，M为大于等于2的正整数；

S2：测试M个元器件的并联电流为I1；

S3：M个元器件正常电流范围（Imin Imax），且Imin小于Imax；如果I1小于Imin，则并联的M个元器件均不合格；如果I1大于Imax，则并联的M个元器件均不合格；如果I1大于或等于Imin，且I1小于或等于Imax，则并联的M个元器件均合格。

7.根据权利要求6所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：

S4：将上述M个元器件分成两组分别为：M1个元器件和M2个元器件，即M1+M2=M；所述M1个元器件并联测试电流为I2，M1个元器件正常电流范围为（Imin1 Imax2），如果I2小于Imin1，则M1个并联的元器件不合格；如果I2大于Imax2，则M1个并联的元器件不合格；如果I2大于或等于Imin1，且I2小于或等于Imax2，则则M1个并联的元器件合格；所述M2个元器件并联测试电流为I3，M2个元器件正常电流范围为（Imin3 Imax4），如果I3小于Imin3，则M2个并联的元器件不合格；如果I3大于Imax4，则M2个并联的元器件不合格；如果I3大于或等于Imin3，且I3小于或等于Imax4，则M2个并联的元器件合格。

8.根据权利要求6所述的快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，其特征在于：

并联的M个元器件为电参数要求一致的元器件，即每个元器件电流范围均要求为（IaIb），Ia小于Ib；则M*Ia=Imin，M*Ib=Imax。