[发明专利]在线自检及实时校正系统、方法及光波元件分析仪

说明书

本公开提供了一种在线自检及实时校正系统、方法及光波元件分析仪。其中，一种在线自检及实时校正系统，包括：控制器、第一光开关、第二光开关和标准光器件；所述控制器，被配置为：控制第一光开关和第二光开关均连接至标准光器件，形成光波元件分析仪内部光发射机、第一光开关、标准光器、第二光开关和光波元件分析仪内部光接收机依次相连的直通校准电路，实现光波元件分析仪的自检；当自检完成后，控制第一光开关和第二光开关均与标准光器件断开，切换连接至被测件，形成外部测试通路，实现光波元件分析仪的自检与外部测试的在线无插拔自动切换。

技术领域

本公开属于光波元件分析仪领域，尤其涉及一种在线自检及实时校正系统、方法及光波元件分析仪。

背景技术

本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。

光波元件分析仪可测试光电探测器、调制激光器、光放大器等高速光电器件的幅频响应、相频响应等特性，具有3dB带宽、阻抗分析、数据存储等功能，还可精确测量光-光无源器件的损耗特性、群延时等参数。光波元件分析仪为高端精密测试仪器，在应用中要求具有稳定、可靠的技术指标及功能，而仪器在测试过程中步骤繁琐，操作技巧高，需要反复进行自身光发射机和光接收机的校准，导致测试过程中需要重新插接连接标准线缆进行校准；其次，作为高端精密测试仪器，其工作状态(指标测试精度等)的监测及校正是保障测试可靠稳定的重要前提条件。

发明人发现，光波元件分析仪作为高端精密测试仪器，在使用过程中，操作过程繁琐，对操作人员技能水平要求较高，要实现较好的测试精度，首先需要完成繁琐校准通路测试，该部分需要完成光发射机和光接收机的光测试模块的参数校准；其次，当测试参数改变后，需要取下当前被测件回路，接入校准光纤跳线，再次进行光发射机和光接收机的回路参数校准，校准完成后需要重新接入被测件，完成测试，每当改变参数时，就需要重新校准，步骤繁琐，反复校准，效率低下；最后，作为高端测试仪器，长时间使用或状态未知时，仪器自身状态参数需要校准后才能确保仪器参数测试精度，现有光波元件分析仪不具有光测试模块的自动校准或状态监测的功能，不能有效保证仪器在长时间使用的技术状态参数。

发明内容

为了解决上述问题，本公开的第一个方面提供一种在线自检及实时校正系统，其无需用户取下被测件进行外接光纤跳线进行校准，即可实现内部自检和校正，极大提高了测试效率，可保证仪器的具有长期可靠稳定的技术指标状态。

为了实现上述目的，本公开采用如下技术方案：

一种在线自检及实时校正系统，包括：

控制器、第一光开关、第二光开关和标准光器件；

所述控制器，被配置为：

控制第一光开关和第二光开关均连接至标准光器件，形成光波元件分析仪内部光发射机、第一光开关、标准光器、第二光开关和光波元件分析仪内部光接收机依次相连的直通校准电路，实现光波元件分析仪的自检；

当自检完成后，控制第一光开关和第二光开关均与标准光器件断开，切换连接至被测件，形成外部测试通路，实现光波元件分析仪的自检与外部测试的在线无插拔自动切换。

为了解决上述问题，本公开的第二个方面提供一种在线自检及实时校正系统的校正方法，其无需用户取下被测件进行外接光纤跳线进行校准，即可实现内部自检和校正，极大提高了测试效率，可保证仪器的具有长期可靠稳定的技术指标状态。

为了实现上述目的，本公开采用如下技术方案：

一种在线自检及实时校正系统的校正方法，包括：

第一光开关和第二光开关均连接至标准光器件，形成光波元件分析仪内部光发射机、第一光开关、标准光器、第二光开关和光波元件分析仪内部光接收机依次相连的直通校准电路，实现光波元件分析仪的自检；