[发明专利]一种通用开合寿命仪在审
| 申请号： | 201910322495.2 | 申请日： | 2019-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN110007223A | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 张平泽;吴昊;马立皓 | 申请（专利权）人： | 常州机电职业技术学院 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01M13/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 常州市科谊专利代理事务所 32225 | 代理人： | 孙彬 |
| 地址： | 213100 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 工控机 开合 通用 电流检测模块 断路器 参数值对比 显示屏显示 电性连接 检测模块 控制电流 实时数据 试验装置 寿命判断 运行电流 分闸 投运 显示屏 检测 试验 通讯 | ||
1.一种通用开合寿命仪，其特征在于，包括：
MCU处理器、电流检测模块和带有显示屏的工控机；
所述电流检测模块和工控机均与MCU处理器电性连接；
所述工控机与MCU处理器进行通讯，以实现远程对断路器进行合、分闸的操作，同时MCU处理器控制电流检测模块检测运行电流；
所述显示屏显示工控机输送的实时数据，与工控机内设定的运行参数值对比得出断路器的寿命判断结果。
2.如权利要求1所述的通用开合寿命仪，其特征在于，
所述通用开合寿命仪还包括：传动机构；
所述传动机构适于驱动断路器进行合、分闸。
3.如权利要求2所述的通用开合寿命仪，其特征在于，
所述传动机构为上升下降驱动电机。
4.如权利要求3所述的通用开合寿命仪，其特征在于，
所述传动机构通过整流模块进行供电。
5.如权利要求1所述的通用开合寿命仪，其特征在于，
所述MCU处理器上设置有存储模块，以存储设定的运行参数值和试验的运行记录。
6.如权利要求1所述的通用开合寿命仪，其特征在于，
所述MCU处理器电性连接一报警模块；
当寿命试验过程中出现异常情况时，控制所述报警装置进行报警。
7.如权利要求6所述的通用开合寿命仪，其特征在于，
所述报警模块包括与所述MCU处理器的输出端相连的蜂鸣器和/或报警指示灯。
8.如权利要求1所述的通用开合寿命仪，其特征在于，
所述显示屏为触摸屏；
所述触摸屏将触发控制指令通过工控机发送至MCU处理器。
9.如权利要求1所述的通用开合寿命仪，其特征在于，
所述MCU处理器设置有多个通讯接口，以供外部扩展使用。
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