[发明专利]双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法有效
申请号: | 201910319601.1 | 申请日: | 2019-04-19 |
公开(公告)号: | CN109883343B | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 赵维谦;邱丽荣 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14 |
代理公司: | 11639 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 邬晓楠 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特性曲线 错位差 共焦 光学精密测量 轴向间隙测量 共焦镜组 被测镜 锐化 相减 抗环境干扰能力 共焦测量系统 测量精度高 补偿计算 测量系统 差动共焦 顶点位置 光线追迹 间隙测量 探测区域 虚拟针孔 轴向间隙 定焦 镜组 寻位 轴向 灵敏 探测 图像 焦点 应用 | ||
1.双边错位差动共焦镜组轴向间隙测量方法,其特征在于:包括以下步骤,
a)打开点光源(1),调整被测镜组(6)使其与测量物镜(4)和准直透镜(3)共光轴,点光源(1)发出的光经分束镜(2)、准直透镜(3)和测量物镜(4)后汇聚成测量光束(5)聚焦在被测镜组(6)透镜上,被测镜组(6)反射的测量光束(5)再经测量物镜(4)和准直透镜(3)后被分束镜(2)反射进入到横向相减共焦探测系统(7),形成的测量艾里斑(10)被CCD探测器(9)探测;
c)沿光轴方向移动被测镜组(6)使测量光束(5)的焦点与被测镜组(6)的透镜前表面顶点A位置重合;在该镜组透镜前表面顶点A位置附近相对轴向扫描测量物镜(4)或被测镜组(6),将横向相减共焦探测系统(7)中大虚拟针孔探测域(11)探测到的大虚拟针孔探测共焦特性曲线(13)IB(z)和小虚拟针孔探测域(12)探测到的小虚拟针孔探测共焦特性曲线(14)IS(z)进行相减处理,得到半高宽压缩的锐化共焦特性曲线(15)I(z)=IS(z)-γIB(z),其中z为轴向坐标,γ为调节因子;
d)将锐化共焦特性曲线(15)沿横向坐标平移S得到平移锐化共焦特性曲线(16),并使锐化共焦特性曲线(15)和平移锐化共焦特性曲线(16)的侧边交汇,对锐化共焦特性曲线(15)和平移锐化共焦特性曲线(16)分别进行同横坐标点插值处理后,再进行逐点相减处理得到错位相减差动共焦特性曲线(17)ID(z)=I(z)-I(z,-S),利用差动共焦线性拟合直线(18)对错位相减差动共焦特性曲线(17)的线性段数据进行直线拟合,通过反向回移差动共焦点性拟合直线(18)S/2位置的回移差动共焦拟合直线(20)的移位拟合直线零点(21)来精确确定测量光束(5)焦点与被测镜组(6)的顶点的重合位置,进而得到被测镜组(6)的透镜前表面顶点A位置Z1;
e)沿光轴方向移动测量物镜(4)或被测镜组(6),使测量光束(5)的焦点与被测镜组(6)的透镜后表面顶点B重合;在所述镜组透镜顶点B位置附近轴向扫描测量物镜(4)或被测镜组(6),由横向相减共焦探测系统(7)通过处理测得的测量艾里斑(10)得到锐化共焦特性曲线(15)后再进行双边错位相减处理,得到与测量物镜(4)焦点附近对应的第二错位相减差动共焦特性曲线(22),主控计算机(24)按照步骤d)通过对第二错位相减差动共焦特性曲线(22)进行线性拟合、拟合直线回移及确定回移拟合直线零点精确确定被测镜组(6)的后表面顶点位置B,记录此时被测镜组(6)的透镜后表面顶点B的位置Z2;
f)沿光轴方向移动被测镜组(6),使测量光束(5)的焦点分别与被测镜组(6)内各透镜的表面顶点位置重合,即分别与每个透镜的前表面顶点和后表面顶点重合;在各表面顶点位置附近扫描被测镜组(6),由横向相减共焦探测系统(7)得到错位相减差动共焦特性曲线(17),依次通过回移差动共焦拟合直线(20)的移位拟合直线零点(21)来确定测量光束(5)的焦点精确定焦在被测镜组(6)组内各透镜的表面顶点位置,并将各顶点位置依次记为Z1,Z1,Z2,…,Zm,m为被测镜组(6)组内透镜的总透光面数;
g)根据建立的光线追迹及其补偿模型,依次计算得到被测镜组(6)组内第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的轴向间隙dN=lN′。
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