[发明专利]亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法有效
申请号: | 201910317864.9 | 申请日: | 2019-04-19 |
公开(公告)号: | CN110068271B | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 陈伟斌;程小斌 | 申请(专利权)人: | 怡得乐电子(杭州)有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人: | 关家强 |
地址: | 310018 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 精度 尺寸 产品 pin 位置 检测 方法 | ||
本发明提出的亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法,通过固定相机和光源的位置,利用伺服系统带动产品移动,将产品分为若干子部分分别采集各部分的图像,利用各图像中具有的共同像素点,将各子部分的图像的统一的图像坐标系,同时创建出新的基准坐标系,最后将计算得到的PIN针针尖与新的基准之间的距离与设定的公差值进行比较,从而区分合格品和非合格品。本发明摒弃了采用图像缝合方法获取大尺寸产品尺寸的方法,能够大大减少拼接而带来的误差,处理像素具有亚像素功能。此外,本发明的检测方法适用不同品牌的相机,并能够应用于不同产品的检测,通用型和兼容性强。
技术领域
本发明涉及PIN针位置度检测领域,尤其是涉及亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法。
背景技术
在工业生产中,有大量形态各异的产品,需要进行高精度的尺寸测量,而针对较大尺寸的产品,由于传统的影像检测系统只能针对一幅图像进行处理,测量精度不能满足要求。
针对较大尺寸的产品,目前通常采用直接将两幅图像缝合的方法,精度较差,因缝合造成的误差超过1个像素,不能用于尺寸测量;此外,传统影像检测系统使用线扫相机的图像,由于在获取图像时容易受运动的稳定性及外部振动等因素影响,不适用与尺寸测量,且测量时间长。
发明内容
为解决上述问题,本发明提出了针对大尺寸产品的PIN针位置度检测方法,具有亚像素功能,系统精度高,且重复性好,便于维护。
本发明的主要内容为:
亚像素精度的大尺寸产品的PIN针位置度检测方法,包括如下步骤:
S1.将待测产品在长度方向上分为若干子部分Ai,并在产品上设置用于检测位置度的第一基准点和第二基准点,其中,i的取值大于等于1;相邻子部分Ai之间具有重合区域Bi,且产品上的第一基准点位于第一个子部分上,产品上的第二基准点位于最后一个子部分上;
S2.采用PIN针检测系统按顺序依次采集各子部分Ai的图像,记为Pi,并将各子部分的图像Pi按顺序编号并存放;
S3.采用PIN针检测系统对各子部分的图像Pi中的重合区域进行预处理,分别获取各子部分Ai的重合区域Bi内的相同像素点在图像坐标系内的位置信息,并建立统一的图像坐标系;
S4.采用PIN针检测系统对各子部分的图像Pi中的PIN针的区域进行预处理,获取各子部分Ai中各个PIN针的中心点在统一的图像坐标系内的位置信息;
S5.获取第一基准点和第二基准点在统一的图像坐标系内的位置信息,创建新的基准坐标系;
S6.分别计算各PIN针中心点与新的基准坐标系的X轴的距离DX以及与新的基准坐标系Y轴的距离DY,当DX和DY同时满足设定的数值时,对应的PIN针的位置度合格;否则,对应的PIN针的位置度不合格;
其中,所述PIN针检测系统包括PIN针检测设备以及工控机,所述PIN针检测设备包括相机、光源以及伺服系统;待测产品固定在伺服系统的定位夹具上,所述光源设置在所述伺服系统上方,所述相机设置在所述光源上方;在采集各子部分Ai的图像的过程中,保持相机和光源的位置不变,所述伺服系统带动待测产品沿第一方向移动;所述工控机与所述相机连接,用于读取所述相机获取的图像以对图像进行处理和计算。
优选的,S2包括如下子步骤:
S21.将待测产品固定在所述伺服系统的定位夹具上;
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