[发明专利]一种小型熔断器耐久性试验的测试方法

说明书

本发明提供了一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法，所述测试装置包括控制部以及测试电路部，其特征在于，所述测试电路部包括电流发生器、第一支路、第二支路，所述第一支路与电流发生器串联，所述第二支路与电流发生器串联，且第一支路与第二支路之间为并联设置；所述第一支路上设置第一继电器R1、待测小型熔断器F1，所述第二支路上设置第二继电器R2，所述控制部分别与第一继电器R1、第二继电器R2连接；本发明所述的一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法，避免了电路连通时的冲击电流伤害待测小型熔断器F1，以及现有技术中采用大电压、大负载所造成的电气安全隐患，同时也节省了能源。

技术领域

本发明涉及电气设备检测领域，特别涉及一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法。

背景技术

根据不同规格熔断器的技术参数和标准规定的测试要求，需要对熔断器进行耐久性的检测；具体的，在进行小型熔断器耐久性试验的过程中往往参考 GB/T 9364.1-2015《小型熔断器第1部分小型熔断器定义和小型熔断体通用要求》这一国家标准，其中要求小型熔断器耐久性试验需要通相关标准规定的电流1h，然后切断电流15min，循环100次，电流稳定在设定值的±1％范围内。

在对小型熔断器耐久性进行检测时，往往需要将小型熔断器、电源、负载与时间继电器串联起来，再开启电源给小型熔断器通电，通过时间继电器控制通电流时间；例如，申请号为201710146636.0的专利申请公开了一种熔断器技术参数检测装置及其检测方法，能够对熔断器的耐久性进行检测；但在现有技术的操作过程中，在切断电流后重新导通时会产生高冲击电流，往往不符合电流误差在设定值±1％内的要求，这种冲击电流如果过大将会烧毁小型熔断器。

在现有技术中，为避免这种冲击电流烧毁熔断器，往往将电压与负载按照比例一起增大，电压与负载越大，电流稳定性越高，来提高电流的稳定性；但这种设置会因为使用了大电压、大负载所存在的电气安全隐患，同时浪费能源。因此，为解决上述相关问题，需要一种小型熔断器耐久性试验测试装置。

发明内容

有鉴于此，本发明旨在提出一种小型熔断器耐久性试验测试装置及测试方法，以解决现有技术中使用大电压、大负载造成的安全隐患与能源浪费问题。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种小型熔断器耐久性试验测试装置，所述测试装置包括控制部以及测试电路部，所述测试电路部包括电流发生器、第一支路、第二支路，所述第一支路与电流发生器串联，所述第二支路与电流发生器串联，且第一支路与第二支路之间为并联设置；所述第一支路上设置第一继电器R1、待测小型熔断器F1，所述第二支路上设置第二继电器R2，所述控制部分别与第一继电器R1、第二继电器R2连接。

进一步的，所述第一继电器R1包括第一线圈C1、第一触点K1，所述第一触点K1与待测小型熔断器F1以串联的方式设置在第一支路中，所述第一线圈 C1与控制部连接。

进一步的，所述第二继电器R2包括第二线圈C2、第二触点K2，所述第二触点K2设置在第二支路中，所述第二线圈C2与控制部连接。

进一步的，第一触点K1耐电流能力大于电流发生器的设定电流值，第二触点K2的耐电流能力大于电流发生器的设定电流值。

进一步的，所述控制部包括控制模块、存储器，所述控制模块与存储器连接，所述控制模块分别与第一线圈C1、第二线圈C2连接。

进一步的，所述控制模块为单片机系统，所述存储器为可擦写式存储介质。

一种小型熔断器耐久性试验的测试方法，所述测试方法使用所述小型熔断器耐久性试验测试装置，所述方法包括：

步骤一、存储器的存储数值调零，并进行第一电流稳定过程；

步骤二、在第一电流稳定过程结束后，进行第二电流稳定过程，存储器的存储数值加1；