[发明专利]一种芯片温度检测电路和音频功率放大器

说明书

本发明提供了一种芯片温度检测电路和音频功率放大器，包括温度采样单元、第一控制单元、第一缓冲单元、第二缓冲单元、第二控制单元和比较放大单元，从而可以通过温度采样单元、缓冲单元和比较放大单元获得温度采样电压，以根据温度采样电压获得芯片的温度，消除温度变化对喇叭电流检测的影响；通过在第一状态下和第二状态下交替运行的第一控制单元和第二控制单元，消除缓冲单元的工艺偏差产生的失调电压对温度采样电压的影响，提高芯片温度检测结果的准确度。

技术领域

本发明涉及数字音频功放技术领域，更具体地说，涉及一种芯片温度检测电路和音频功率放大器。

背景技术

喇叭的可靠性在消费电子领域越来越得到重视，特别是在手机等移动终端的应用方面。在喇叭工作过程中，需要将喇叭的阻抗数据实时传输到处理器，以使处理器根据阻抗的变化控制音乐的幅度，使喇叭工作在可靠范围内，起到保护喇叭的作用。

在D类音频功率放大器的输出级检测电压和电流，并将电压除以电流就可以得到喇叭的阻抗。在D类音频功率放大器的应用中，常见的电流检测方式为在功率输出级上串联几十mΩ的金属电阻，将电流转换为电压，再通过模数转换器得到喇叭上流过的电流值。

但是，由于金属电阻的温度系数较大，因此，随着芯片的温度升高，金属电阻的阻值会变大，此时金属电阻上的压降也会变大，导致喇叭的电流检测值偏大。基于此，亟需一种检测音频功率放大器所在芯片的温度的电路，以消除温度变化对喇叭电流检测的影响。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种芯片温度检测电路和音频功率放大器，以检测音频功率放大器所在芯片的温度，消除温度变化对喇叭电流检测的影响。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种芯片温度检测电路，包括：

温度采样单元，用于输出第一采样电压和第二采样电压，所述第一采样电压与所述第二采样电压不相等；

第一控制单元，用于在所述第一状态下，将所述第一采样电压传输至所述第一缓冲单元、将所述第二采样电压传输至所述第二缓冲单元，在所述第二状态下，将所述第一采样电压传输至所述第二缓冲单元、将所述第二采样电压传输至所述第一缓冲单元，所述第一状态和所述第二状态交替运行；

第一缓冲单元，用于对所述第一采样电压进行缓冲得到第一缓冲电压，或者，对所述第二采样电压进行缓冲得到第二缓冲电压；

第二缓冲单元，用于对所述第二采样电压进行缓冲得到第二缓冲电压，或者，对所述第一采样电压进行缓冲得到第一缓冲电压；

第二控制单元，用于在所述第一状态下，将所述第一缓冲单元输出的第一缓冲电压传输至比较放大单元的第一输入端、将所述第二缓冲单元输出的第二缓冲电压传输至所述比较放大单元的第二输入端，在所述第二状态下，将所述第一缓冲单元输出的第二缓冲电压传输至所述比较放大单元的第二输入端、将所述第二缓冲单元输出的第一缓冲电压传输至所述比较放大单元的第一输入端；

所述比较放大单元用于对所述第一缓冲电压和所述第二缓冲电压进行放大处理，并根据所述第一缓冲电压和所述第二缓冲电压获得温度采样电压，以根据所述温度采样电压获得所述芯片的温度。

可选地，所述温度采样单元包括第一电流源、第二电流源、第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管为双极性晶体管；

所述第一电流源的一端与所述第一晶体管的发射极相连，所述第一电流源的另一端与电压输入端相连；

所述第二电流源的一端与所述第二晶体管的发射极相连，所述第二电流源的另一端与所述电压输入端相连；

所述第一晶体管的基极和集电极相连后与地连接，所述第二晶体管的基极和集电极相连后与地连接；