[发明专利]一种屏体伽马调试方法及显示模组在审

专利信息
申请号: 201910257521.8 申请日: 2019-04-01
公开(公告)号: CN109767729A 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 李勇 申请(专利权)人: 昆山国显光电有限公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208
代理公司: 北京布瑞知识产权代理有限公司 11505 代理人: 孟潭
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 伽马 调试 光学参数 显示模组 屏体 影响生产效率 正整数 灰阶 赋予
【说明书】:

发明提供了一种屏体伽马调试方法及显示模组,解决了伽马调试时间过长,影响生产效率的问题。包括:步骤一,获得对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组,并且对所述第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组,i≥2且为正整数,不同绑点的灰阶不同;步骤二,将所述第二值组调节为与所述第一值组相同等的第三值组;步骤三,将所述第三值组赋予所述第i个绑点,并作为所述第i个绑点的标准值。

技术领域

本发明涉及像是装置色彩调试技术领域,具体涉及一种屏体伽马调试方法及显示模组。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)由于其自身工作耗电小,发光亮度高,对人体辐射小和寿命长等特点在显示和通信领域被广泛的应用。OLED模组在调试时,特别是在产线的伽马调试过程中,为了保证所有的灰阶满足所要求的伽马曲线,通常需要将所有的伽马绑点从默认值朝着目标值调试,而伽马绑点又特别多,这就导致单独调试完一片模组的时间通常需要约两分钟。而成本与生产效率是一个公司赖以生存的重要的因素,而如何降低成本以及提升生产效率在当今已经变得非常重要。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种屏体伽马调试方法及显示模组,解决了伽马调试时间过长,影响生产效率的问题。

本发明一实施例提供的一种屏体伽马调试方法及显示模组包括:步骤一,获得对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组,并且对所述第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组,i≥2且为正整数,不同绑点的灰阶不同;步骤二,将所述第二值组中每一个调节为与所述第一值组中的每一个都相同的第三值组;步骤三,将所述第三值组赋予所述第i个绑点,并作为所述第i个绑点的标准值。

在一种实施方式中,第i个绑点的灰阶大于第i+1个绑点的灰阶。

在一种实施方式中,绑点的个数小于灰阶数。

在一种实施方式中,灰阶较小的绑点数大于灰阶较大的绑点数。

在一种实施方式中,所述第一值组与所述第二值组不同。

在一种实施方式中,在所述步骤一中,第1个绑点的灰阶大于第i个绑点的灰阶,且第1个绑点的光学参数目标值为给定值,第i个绑点的光学参数目标值为根据目标伽马曲线结合第1个或第i-1个绑点的光学参数目标值而得到的获得值。

在一种实施方式中,在所述步骤一中,所述第i个绑点被预赋有对应于虚拟光学参数值的第四值组,对所述第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组的操作包括使用所述第二值组替代所述第四值组。

在一种实施方式中,所述光学参数包括屏体的色坐标和亮度。

在一种实施方式中,所述屏体的色坐标和亮度由所述屏体的n种颜色的子像素的发光组合呈现出来,n≥3且为正整数,所述第一值组、第二值组、第三值组和第四值组中的任一个包括分别对应于所述n种颜色的子像素的n个电压。

一种显示模组,包括屏体和IC,所述IC被通过根据任一项所述的屏体伽马调试方法进行了调节。

本发明实施例提供的一种屏体伽马调试方法及显示模组,对第i个绑点赋予对应于相邻绑点的光学参数目标值的第二值组,且通过获取对应于第i个绑点的光学参数目标值的第一值组,继而将第二值组调节成与第一值组中的每一个相等的第三值组,将第三值组赋予第i个绑点,并且作为第i个绑点的标准值。由于第i个绑点是在第二值组的基础上调试成第三值组,第二值组对应光学参数值相比较第i个绑点的虚拟光学参数值更接近第三值组对应的光学参数值,因此将第二值组调节成第三值组的时间更短,可以解决第i个绑点的调试时间,进而加快了整个屏体的伽马调试时间。

附图说明

图1所示为本发明第一实施例提供的一种伽马调试方法的流程图。

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