[发明专利]原子吸光光度计和原子吸光光度计的极微量分析诊断方法

说明书

本发明提供原子吸光光度计和原子吸光光度计的极微量分析诊断方法。在电加热原子吸光中进行极微量分析的情况下，当存在污染的影响时，无法得到正确的分析值。以往，测定者根据经验反复进行用于确定污染源的事前测定，需要时间和劳力。分析初学者无法进行针对污染的判断，有时得出错误的结果。为了解决上述课题而完成的本发明是具有“极微量分析诊断系统”的装置和系统，其具有原子吸光光度计主体、自动取样器和操作用PC，对判定包含反应杯在内的电加热炉、自动取样器的送液路径、样品杯和测定溶剂等的污染的顺序进行自动化。

技术领域

本发明涉及进行极微量分析时的测定系统的污染状况诊断方法和装置。

背景技术

一般而言，电加热原子吸光法测定μg/L级别的金属。根据测定条件的不同，还能够进行ng/L级别的极微量无机元素分析。在进行极微量无机元素分析的情况下，当电加热炉、试样送液系统存在基于测定对象元素的污染时，无法得到正确的分析值。记述了“数据异常的原因大多由污染引起，因此，对这些要因进行管理。”(非专利文献1)。

当测定前的污染确认不充分、或者未确定污染源而直接进行测定时，有时无法得到高精度的分析结果，因此，在测定开始之前依次检查反应杯的污染、样品杯的污染、试样送液系统的污染，在确认没有问题后，转移到试样的测定。

专利文献1公开了如下技术：为了在电加热原子吸光中进行针对污染的判断，同时测定两种以上的金属并监视来自外部的污染。专利文献2公开了高效地清洗自动取样器的喷嘴的技术。专利文献3记载了去除氢氟酸溶液测定后的氢氟酸的影响的清洁方法的技术。

这里，污染是指，环境或测定对象元素的残渣等由于以前的测定的试样产生的物质残留在测定系统中而对新的测定的值造成影响。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平04-307353

专利文献2：日本特开平08-075756

专利文献3：日本特开平08-261917

非专利文献

非专利文献1：平井昭司(2012).有助于实务！从基础学起的分析化学natsume公司

发明内容

发明要解决的课题

在电加热原子吸光光度法中进行极微量分析的情况下，当存在污染的影响时，无法得到正确的分析值。因此，以往，测定者根据经验反复进行用于确定污染源的事前测定，需要时间和劳力。此外，存在如下课题：分析初学者无法进行针对污染的判断，有时得出错误的结果。

根据本发明，能够提供分析的初学者也能够没有错误地进行微量分析而不受污染的影响的极微量分析装置和极微量分析诊断方法。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本发明的原子吸光分析装置具有能够进行电加热测定的原子吸光光度计主体、自动取样器和操作用计算机，具有如下的微量分析诊断功能：判定包含反应杯在内的电加热炉、自动取样器的送液路径和样品杯有无基于测定对象元素的微量污染。

根据本发明的原子吸光分析装置的微量分析诊断功能，具有如下功能：原子吸光光度计的噪声水平的测定；所述反应杯、所述加热炉、包含所述自动取样器的送液路径、所述样品杯、测定用溶剂的污染评价；以及基于标准液的再现性的评价。

根据所述微量分析诊断功能，具有能够在微量分析诊断开始时选择诊断级别的功能。