[发明专利]发光元件的光线感测方法及装置

说明书

本发明提供一种发光元件的光线感测方法及装置，其利用一发光元件相邻设置于一发光二极管，该发光二极管接收该发光元件的一光线并产生一电性讯号，并利用一处理装置判断该电性讯号的大小是否大于或小于一默认值，以判断该发光元件的发光强度，如是否损坏进而影响发光元件的发光强度，本发明利用发光二极管感测发光元件的光线，并依据发光二极管产生的电流变化判断发光元件的发光强度，达到发光二极管可感测发光元件的功效。

技术领域

本发明是关于一种发光元件的光线感测方法及装置，尤其指一种利用发光二极管感测发光元件的光线，并判断发光元件的发光强度的方法及装置。

背景技术

发光二极管是一种具有电量低消耗、低发热、操作寿命长、耐撞击、体积较小以及发出的光等波长良好的光电组件，发光二极管较常用于各种家电及计算机设备的指示上，例如仪器仪表板与其指示灯。

随着时代演进，发光二极管逐渐于亮度、亮度有所提升以及颜色种类有所增加，如关键的蓝光发光二极管，其导致发光二极管显示器成为可能及LED照明的发展。发光二极管显示器是由多个发光二极管组件所组成，其可以取代液晶显示器或电浆显示器，并用于显示全彩的图形影像。

发光二极管显示器的每一个像素是由发光二极管晶粒所组成。随着时代的演进，发光二极管显示器的像素越来越高，导致其采用的发光二极管晶粒也越来越多。若是大型高像素的显示器，其所采用的发光二极管晶粒数量更是惊人。

由于每个发光二极管晶粒的制造过程较繁杂，制程中的任何一个环节都有可能直接影响到其发光效率，因而导致通入相同的驱动电流到每个LED晶粒，其所产生的光效率也不尽然相同。因此，发光二极管显示器在正式使用前，都必须采用精密的仪器作光效率校正，使得每一个构成发光画素的发光二极管晶粒组均能以相同的亮度显示。

然而，习知的发光二极管晶粒，就算于使用前已作过精密的校正，但是经过一段时间后将导致晶粒的发光有所误差，部分发光二极管晶粒将逐渐变亮或变暗，进而导致整体发光二极管显示、照明装置呈现明暗不均匀的问题，为避免此问题业界通常以光线感测装置去侦测以得知每一发光二极管晶粒的发光状态，但随着发光二极管晶粒使用数量的上涨，侦测每一发光二极管晶粒的发光状态的作业越来越繁重，使此方式逐渐不敷使用。

有鉴于此，上述习知技术的缺点，本发明提供一种发光元件的光线感测方法及装置，其利用发光元件相邻设置于发光二极管，发光二极管接收发光元件所发出的光线，并产生光电流讯号，再利用处理装置接收并判断电流电压的大小是否超过预设的数值，以此判断发光元件的发光强度，由于该发光元件损坏会影响其发光强度，因此可依据发光二极管产生的电流变化判断该发光元件的发光强度，达到发光二极管可开启发光也可关闭并感测另一发光元件的功效，以解决存在于习知技术中的该些缺失。

发明内容

本发明的一目的在于提供一种发光元件的光线感测方法及装置，其利用关闭的一发光二极管感测开启的一发光元件所发出的一光线，该发光二极管依据该光线的发光强度产生一电性讯号，以得知该发光元件的发光强度。

为达到上述所指称的各目的与功效，本发明提供一种发光元件的光线感测方法，其步骤包含：提供一发光元件，该发光元件发出一光线；使用一发光二极管感测该光线，并依据该光线的发光强度产生电性讯号发送至一处理装置；以及该处理装置判断该电性讯号的大小是否超过一默认值，利用上述方法感测发光元件的发光强度。

本发明的一实施例中，其中该发光二极管与该发光元件相邻设置。

本发明的一实施例中，其中该发光元件使用发光二极管(LED,Light-emittingdiode)。

本发明的一实施例中，其中该发光二极管的发光波长大于该发光元件的发光波长。

本发明的一实施例中，其中该电性讯号包含电流及电压。