[发明专利]磁检测装置

说明书

本发明的磁检测装置具备：传感器部，包括第一磁检测元件，第一磁检测元件具有第一叠层结构且可以检测检测对象磁场；以及电阻部，包括第一电阻元件且与传感器部连接，第一电阻元件具有第一叠层结构。

技术领域

本发明涉及一种具备磁检测元件和电阻元件的磁检测装置。

背景技术

本申请人提议：具备构成桥接电路的多个磁阻效应元件与补正用电阻器串联的电路的磁传感器(例如参照专利文献1)

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-33456号公报

发明内容

然而，对这样的具备补正用电阻器的磁检测装置，要求提高其生产率。

因此，期望提供一种具有可以通过更简易的工艺制造的构造的磁检测装置。

作为本发明的一种实施方式的磁检测装置，具备：传感器部，包括第一磁检测元件，第一磁检测元件具有第一叠层结构且可以检测检测对象磁场；以及电阻部，包括第一电阻元件且与传感器部连接，第一电阻元件具有第一叠层结构。

作为本发明的一种实施方式的另一种磁检测装置，具备：传感器部，包括第一磁检测元件，第一磁检测元件具有第一磁性体且可以检测检测对象磁场，第一磁性体具有第一磁化，第一磁化固定在第一方向上；以及电阻部，包括第一电阻元件且与传感器部连接，第一电阻元件具有第二磁性体，第二磁性体具有第二磁化，第二磁化固定在第一方向上。

附图说明

图1是表示作为本发明的一种实施方式的磁检测装置的整体结构例子的主视图。

图2是表示图1所示的磁检测装置的截面结构的剖视图。

图3是图1所示的磁检测装置的电路图。

图4A是表示图1所示的磁检测元件的第一叠层结构的立体图。

图4B是表示图1所示的磁检测元件的第二叠层结构的立体图。

图5是表示作为本发明的第一变形例的磁检测装置的整体结构的主视图。

图6是表示作为本发明的第二变形例的磁检测装置的整体结构的主视图。

符号的说明

1、1A、1B 磁检测装置

10 基板

11～14 磁检测元件

11P～14P 第一～第四传感器图案

15U、15L 布线

20 检测电路

21～24 电阻元件

21P～24P 第一～第四电阻图案

30 桥接电路

40 桥接电路

31P～34P 第一～第四伪图案

S1 第一叠层结构

S2 第二叠层结构

Vout1、Vout2 输出端子

Vcc 电源端子

GND 接地端子

具体实施方式