[发明专利]一种基于局部优化的三维点云平面度计算方法有效

专利信息
申请号: 201910200930.4 申请日: 2019-03-18
公开(公告)号: CN110006372B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 李文龙;胡著;王刚;田亚明 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30;G01B11/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 局部 优化 三维 平面 计算方法
【权利要求书】:

1.一种基于局部优化的三维点云平面度计算方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

S1选取测量平面,获得该测量平面的点云并进行网格划分,网格的间距为原始点云间距的3倍~5倍;

S2对单个网格内的点云进行平面度拟合并获得拟合平面,然后计算该网格内每个点到该拟合平面的距离,并将距离的绝对值进行降序排列,最后基于95%的数据处于3σ置信区间内的理论,将排在前面5%的点作为噪点剔除,具体包括:

S21第k个网格内的点云为对点云Pk进行平面度拟合,确定满足公式(1)的ak,bk,ck的估计值

式中,pki=(xki,yki,zki)为点云Pk中的第i个点的三维坐标,ak,bk,ck为方程的系数;

S22利用估计值建立平面方程计算点云Pk中各点到平面方程zk的距离;

S23将步骤S22获得的距离的绝对值进行降序排列,并将排在前面5%的点作为噪点剔除;S3重复步骤S2直至遍历所有网格,对余下的点云进行平面度拟合获得所述测量平面的平面度,具体包括:

S31将所有网格中的噪点剔除,获得处理后的点云P′={p1,p2,...pi,...ps};

S32对点云P′进行平面度拟合,确定满足公式(2)的a,b,c的估计值

式中,pi=(xi,yi,zi)为点云P′中第i个点的三维坐标,a,b,c是方程的系数;

S33利用估计值建立平面方程然后计算点云P′中各点到平面方程z的距离集合D={d1,d2,...di,...ds};

S34根据公式(3)计算所述测量平面的平面度f,

f=max{d1,d2,...di,...ds}-min{d1,d2,...di,...ds} (3)。

2.如权利要求1所述的基于局部优化的三维点云平面度计算方法,其特征在于,所述步骤S1中采用光学测量系统获得测量平面的点云。

3.如权利要求2所述的基于局部优化的三维点云平面度计算方法,其特征在于,所述步骤S1中的光学测量系统采用光栅式面阵扫描仪进行测量。

4.如权利要求1~3任一项所述的基于局部优化的三维点云平面度计算方法,其特征在于,所述步骤S1中采用正方体网格进行划分。

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