[发明专利]电子装置品质期限管控方法、电子装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种电子装置品质期限的管控方法，其包括：获取电子装置的生产日期；根据生产日期计算电子装置的呆滞时间。本申请提供的电子装置品质期限的管控方法首先获取电子装置的生产日期，生产日期也就是电子装置制造成整机符合出厂的时间。然后根据生产日期计算电子装置的呆滞时间，也就是计算电子装置从出厂至今的时间长度。进而了解电子装置所处的状态，以便生产厂商能够更好地监控已生产的电子装置所处的状态，通过对于本型号或者其他型号的生产进度有一定的参考价值。同时品质人员可以查询即将超期的电子装置信息，提前根据实物状态判断电子装置是否有品质风险，以保证产品的质量。本申请还提供一种电子装置、终端设备以及存储介质。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，特别是涉及一种电子装置品质期限的管控方法、电子装置、终端设备以及存储介质。

背景技术

每台手机、平板电脑等电子装置生产出来之后往往并没办法第一时间或者在很短的时间内销售出去。如果电子装置生产之后一直滞留则随着时间的延长可能有些部件会发生老化，导致电子装置在出售前性能有所降低，而面对这种情况目前没有一个较好得管控方案。

发明内容

本申请提供一种电子装置品质期限的管控方法、电子装置、终端设备以及存储介质。

本申请采用的一个技术方案是：提供一种电子装置品质期限的管控方法，其包括：

获取电子装置的生产日期；

根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间。

本申请还提供一种电子装置，包括：

获取模块，用于获取电子装置的生产日期；

计算模块，用于根据所述生产日期计算电子装置的呆滞时间。

本申请还提供一种终端设备，其包括：

处理器、存储器以及存储在所述储存器上的计算机程序，所述处理器耦合所述存储器，所述处理器在工作时执行所述计算机程序以实现如以上所述的方法。

本申请还提供一种存储介质，其特征在于，存储有程序数据，所述程序数据被执行时实现如以上所述的方法。

本申请提供的电子装置品质期限的管控方法首先获取电子装置的生产日期，生产日期也就是电子装置制造成整机符合出厂的时间。然后根据生产日期计算电子装置的呆滞时间，也就是计算电子装置从出厂至今的时间长度。进而了解电子装置所处的状态，以便生产厂商能够更好地监控已生产的电子装置所处的状态，通过对于本型号或者其他型号的生产进度有一定的参考价值。如果有一些电子装置的呆滞时间已经超过最长的允许呆滞时间，则可以交由品质人员进行检测，以确保每台出库的电子装置符合品质要求。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请电子装置品质期限的管控方法一实施例的流程示意图；

图2是本申请电子装置品质期限的管控方法另一实施例的流程示意图；

图3是本申请电子装置一实施例中的结构示意图；

图4是本申请电子装置另一实施例中的结构示意图；

图5是本申请电子装置再一实施例中的结构示意图；

图6是本申请终端设备一实施例中的结构示意图；

图7是本申请存储介质一实施例中的结构示意图。

具体实施方式